Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
10 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Schlagwort

Sprache

10 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Differential Charge Cancellation (DCC) Layout as an RHBD Technique for Bulk CMOS Differential Circuit Design
    Kauppila, Jeffrey S. ; Hooten, Nicholas C. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 59 (2012-12-01), S. 2867-2871
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Comparison of a BSIM3V3 and EKV MOSFET model for a 0.5 /spl mu/m CMOS process and implications for analog circuit design
    Foty, D. ; Binkley, David M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 50 (2003-08-01), S. 915-920
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Overcoming scaling concerns in a radiation-hardened CMOS technology
    Maimon, J. ; Haddad, N.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 46 (1999-12-01), S. 1686-1689
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Study of device parameters for analog IC design in a 1.2 mu m CMOS-SOI technology after 10 Mrad (for hadron colliders)
    Borel, G. ; Erik H.M. Heijne ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 39 (1992-12-01), S. 1739-1746
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Two CMOS memory cells suitable for the design of SEU-tolerant VLSI circuits
    Bessot, Denis ; Ecoffet, Robert ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 41 (1994-12-01), S. 2229-2234
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    CMOS inverter design-hardened to the total dose effect
    Salager, L. ; Roche, F.M.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 43 (1996-12-01), S. 3097-3102
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    The Dependence of Latch-Up Sensitivity on Layout Features in CMOS Integrated Circuits
    Vu, K. N. ; Witteles, A. A. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 33 (1986), S. 1493-1498
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Radiation Effects in SiGe Technology
    Cressler, John D.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 60 (2013-06-01), S. 1992-2014
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Improving Integrated Circuit Performance Through the Application of Hardness-by-Design Methodology
    Lacoe, R.C.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 55 (2008-08-01), S. 1903-1925
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Design Framework for Soft-Error-Resilient Sequential Cells
    Inan, Umran S. ; Lee, H.-H K. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 58 (2011-12-01), S. 3026-3032
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -