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    Impact of halo doping on the subthreshold performance of deep-submicrometer CMOS devices and circuits for ultralow power analog/mixed-signal applications
    Chakraborty, Saurav ; Mallik, Abhijit ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 54 (2007-02-01), Heft 2, S. 241-248
    Online academicJournal
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    Fundamentals of silicon material properties for successful exploitation of strain engineering in modern CMOS manufacturing
    Chidambaran, P.R. ; Bowen, Chris ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006-05-01), Heft 5, S. 944-964
    Online academicJournal
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    An evaluation of the CMOS technology roadmap from the point of view of variability, interconnects, and power dissipation
    Boeuf, Frederic ; Sellier, Manuel ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008-06-01), Heft 6, S. 1433-1440
    Online academicJournal
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    Transistor- and circuit-design optimization for low-power CMOS
    Chang, Mi-Chang ; Chang, Chih-Sheng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008), Heft 1, S. 84-95
    Online academicJournal
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    A 12-GHz low-phase-noise voltage-controlled oscillator using novel field-plate CMOS transistors
    Wei, Chien-Cheng ; Chiu, Hsien-Chin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 54 (2007-10-01), Heft 10, S. 2803-2807
    Online academicJournal
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    CMOS device and circuit degradations subject to Hf[O.sub.2] gate breakdown and transient charge-trapping effect
    Yu, Chuanzhao ; Yuan, J.S.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 54 (2007), Heft 1, S. 59-67
    Online academicJournal
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    Scalable compact circuit model for differential spiral transformers in CMOS RFICs
    Gao, Wei ; Jiao, Chao ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006-09-01), Heft 9, S. 2187-2194
    Online academicJournal
    Zugriff:
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    Modeling of variation in submicrometer CMOS ULSI technologies
    Springer, Scott K. ; Lee, Sungjae ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006-09-01), Heft 9, S. 2168-2178
    Online academicJournal
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    MOSFET ESD breakdown modeling and parameter extraction in advanced CMOS technologies
    Vassilev, Vesselin ; Lorenzini, Martino ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006-09-01), Heft 9, S. 2108-2117
    Online academicJournal
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    Scalable compact circuit model for differential spiral transformers in CMOS RFICs
    Gao, Wei ; Jiao, Chao ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006-09-01), Heft 9, S. 2187-2194
    Online academicJournal
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    Modeling of variation in submicrometer CMOS ULSI technologies
    Springer, Scott K. ; Lee, Sungjae ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006-09-01), Heft 9, S. 2168-2178
    Online academicJournal
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    A new lossy substrate de-embedding method for sub-100 nm RF CMOS noise extraction and modeling
    Guo, Jyh-Chyurn ; Lin, Yi-Min
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006-02-01), Heft 2, S. 339-347
    Online academicJournal
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    Characterization and design methodology for low-distortion MOSFET-C analog structures in multithreshold deep-submicrometer SIO CMOS technologies
    Vancaillie, Laurent ; Kilchytska, Valeria ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006-02-01), Heft 2, S. 263-269
    Online academicJournal
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    Low-power SRAMs in nanoscale CMOS technologies
    Zhang, Kevin ; Hamzaoglu, Fatih ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 55 (2008), Heft 1, S. 145-151
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Modeling of anomalous frequency and bias dependences of effective gate resistance in RF CMOS
    Cui, Yan ; Niu, Guofu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006-10-01), Heft 10, S. 2620-2626
    Online academicJournal
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    Ultrathin-body SOI devices as a CMOS technology downscaling option: RF perspective
    Nuttinck, Sebastien
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006-05-01), Heft 5, S. 1193-1199
    Online academicJournal
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    From wafer-level gate-oxide reliability towards ESD failures in advanced CMOS technologies
    Kerber, A. ; Rohner, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 53 (2006-04-01), Heft 4, S. 917-920
    Online academicJournal
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Leakage scaling in deep submicron CMOS for SoC
    Lin, Yo-Sheng ; Wu, Chung-Cheng ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 49 (2002-06-01), Heft 6, S. 1034-1041
    Online academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Speed superiority of scaled double-gate CMOS
    Fossum, Jerry G. ; Ge, Lixin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 49 (2002-05-01), Heft 5, S. 808-811
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    Analytical charge collection and MTF model for photodiode-based CMOS imagers
    Lin, Chi-Shao S. ; Mathur, Bimal P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 49 (2002-05-01), Heft 5, S. 754-761
    Online academicJournal
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