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    Effect of Proton Irradiation on Complementary Metal Oxide Semiconductor (CMOS) Single-Photon Avalanche Diodes
    Xun, Mingzhu ; Li, Yudong ; et al.
    In: Electronics (Basel), Jg. 13 (2024), Heft 1
    Online academicJournal
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    Advanced CMOS Devices and Applications
    Lee, Choonghyun ; Zhao, Yi
    In: Electronics (Basel), Jg. 13 (2023-12-01), Heft 1
    Online academicJournal
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    41.6 Gb/s High-Depth Pre-Interleaver for DFE Error Propagation in 65 nm CMOS Technology
    Zhan, Yongzheng ; Li, Tuo ; et al.
    In: Electronics (Basel), Jg. 12 (2023-09-01), Heft 18
    Online academicJournal
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    Near-Infrared CMOS Image Sensors Enabled by Colloidal Quantum Dot-Silicon Heterojunction
    Xu, Qiwei ; Tong, Xinghao ; et al.
    In: Electronics (Basel), Jg. 12 (2023-06-01), Heft 12
    Online academicJournal
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    Design and Measurement of Microelectromechanical Three-Axis Magnetic Field Sensors Based on the CMOS Technique
    Wu, Chi-Han ; Hsu, Cheng-Chih ; et al.
    In: Micromachines, Jg. 14 (2023-05-01), Heft 5
    Online academicJournal
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    Low-Power Current Integrating Flat-Passband Infinite Impulse Response Filter for Sensor Read-Out Integrated Circuit in 65-nm CMOS Technology
    Jo, Sung-Hun
    In: Electronics (Basel), Jg. 12 (2023-03-01), Heft 5
    Online academicJournal
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    A 12-Bit 1-GS/s Pipelined ADC with a Novel Timing Strategy in 40-nm CMOS Process
    Xu, Fangyuan ; Guo, Xuan ; et al.
    In: Electronics (Basel), Jg. 12 (2023-02-01), Heft 4
    Online academicJournal
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    Customized Imperialist Competitive Algorithm Methodology to Optimize Robust Miller CMOS OTAs
    Galembeck, Egon Henrique Salerno ; Gimenez, Salvador Pinillos ; et al.
    In: Electronics (Basel), Jg. 11 (2022-11-01), Heft 23
    Online academicJournal
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    A Novel Autocorrelation Combined MM-CDR Time-Interleaved ADC Timing Calibration in 28 nm CMOS Technology
    Gu, Youzhi ; Feng, Xinjie ; et al.
    In: Electronics (Basel), Jg. 11 (2022-10-01), Heft 19
    Online academicJournal
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    Recent Progresses and Perspectives of UV Laser Annealing Technologies for Advanced CMOS Devices
    Tabata, Toshiyuki ; Rozé, Fabien ; et al.
    In: Electronics (Basel), Jg. 11 (2022-08-01), Heft 17
    Online academicJournal
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    Rediscovering Majority Logic in the Post-CMOS Era: A Perspective from In-Memory Computing
    Reuben, John
    In: Journal of Low Power Electronics and Applications, Jg. 10 (2020-09-01), Heft 3, S. 1G- (15S.)
    Online academicJournal
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    High-Frequency Low-Current Second-Order Bandpass Active Filter Topology and Its Design in 28-nm FD-SOI CMOS
    Ballo, Andrea ; Grasso, Alfio Dario ; et al.
    In: Journal of Low Power Electronics and Applications, Jg. 10 (2020-09-01), Heft 3, S. 1F- (10S.)
    Online academicJournal
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    Investigation of the Specification Degradation Mechanism of CMOS Power Amplifier under Thermal Shock Test
    Zhou, Shaohua ; Yang, Cheng ; et al.
    In: Micromachines, Jg. 13 (2022-05-24), Heft 6
    Online academicJournal
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    Embedded UV Sensors in CMOS SOI Technology
    Yampolsky, Michael ; Pikhay, Evgeny ; et al.
    In: Sensors, Jg. 22 (2022), Heft 3
    Online academicJournal
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    Low-K/Cu CMOS-based SoC technology with 115-GHz [f.sub.T], 100-GHz [f.sub.max], low noise 80-nm RF CMOS, high-Q MiM capacitor, and spiral Cu inductor
    Guo, Jyh-Chyurn
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 19 (2006-08-01), Heft 3, S. 331-338
    Online academicJournal
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Design of a CMOS readout circuit on ultra-thin flexible silicon chip for printed strain gauges
    Elsobky, Mourad ; Mahsereci, Yigit ; et al.
    In: Advances in Radio Science, Jg. 15 (2017-09-21), S. 123
    Online academicJournal
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    Advanced SOI CMOS transistor technology for high performance microprocessors
    Horstmann, M. ; Wiatr, M. ; et al.
    In: Solid State Electronics, Jg. 53 (2009-12-01), Heft 12, S. 1212-1219
    academicJournal
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    A low-noise single-photon detector implemented in a 130nm CMOS imaging process
    In: Solid State Electronics, Jg. 53 (2009-07-01), Heft 7, S. 803-808
    academicJournal
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    Characterization of STI edge effects on CMOS variability
    Wils, Nicole ; Tuinhout, Hans P. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, Jg. 22 (2009-02-01), Heft 1, S. 59-65
    Online academicJournal
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    Laser fine-tuneable deep-submicrometer CMOS 14-bit DAC
    Marche, David ; Savaria, Yvon ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems-I-Regular Papers, Jg. 55 (2008-09-01), Heft 8, S. 2157-2165
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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