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  1. Chen, Zhan ; Koren, I.
    In: 1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 1997, S. 38-42
    Konferenz
  2. Bhowal, Sangramjit ; Pal, R.K.
    In: 2004 IEEE Region 10 Conference TENCON, Jg. D (2004), S. 328-331
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -