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    Ambient Temperature-Induced Device Self-Heating Effects on Multi-Fin Si CMOS Logic Circuit Performance in N-14 to N-7 Scaled Technologies.
    Venkateswarlu, Sankatali ; Nayak, Kaushik
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-04-01), Heft 4, S. 1530-1536
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    Physical Model of Current-Assisted Photonic Demodulator (CAPD) for Time-of-Flight CMOS Image Sensor.
    Estrada, Cristine Jin ; Xiao, Ying ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-07-01), Heft 7, S. 2825-2830
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Design and Sensitivity Improvement of CMOS-MEMS Scanning Microwave Microscopes.
    Azizi, Mostafa ; Mansour, Raafat R.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques, Jg. 65 (2017-08-01), Heft 8, S. 2749-2761
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    A Neuromorphic CMOS Circuit With Self-Repairing Capability.
    Rahiminejad, Ehsan ; Azad, Fatemeh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Neural Networks & Learning Systems, Jg. 33 (2022-05-01), Heft 5, S. 2246-2258
    Online serialPeriodical
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    Volltext
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Device Parameter-Based Analytical Modeling of Power Supply Induced Jitter in CMOS Inverters.
    Arora, Puneet ; Tripathi, Jai Narayan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-07-01), Heft 7, S. 3268-3275
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Frequency-Response-Oriented Design and Optimization of N+ Diffusion Guard Ring in Lightly Doped CMOS Substrate.
    Zhang, Le ; Li, Er-Ping ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 59 (2017-04-01), Heft 2, S. 481-487
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Effective Drive Current for Near-Threshold CMOS Circuits’ Performance Evaluation: Modeling to Circuit Design Techniques.
    Sharma, Arvind ; Alam, Naushad ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-06-01), Heft 6, S. 2413-2421
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    A General Time-Domain Method for Harmonic Distortion Estimation in CMOS Circuits.
    Baxevanakis, Dimitrios ; Sotiriadis, Paul P.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits & Systems, Jg. 40 (2021), Heft 1, S. 157-170
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Performance Projection of 2-D Material-Based CMOS Inverters for Sub-10-nm Channel Length.
    Rawat, Akhilesh ; Gupta, Avinash Kumar ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-07-01), Heft 7, S. 3622-3629
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    High-Temperature Voltage and Current References in Silicon Carbide CMOS.
    Rahman, Ashfaqur ; Francis, Anthony Matt ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-06-01), Heft 6, S. 2455-2461
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Benchmarking Silicon FinFET With the Carbon Nanotube and 2D-FETs for Advanced Node CMOS Logic Application.
    Das, Uttam Kumar ; Hussain, Muhammad M.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-07-01), Heft 7, S. 3643-3648
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    A Novel Empirical Model for CMOS Schottky Diodes up to 67 GHz.
    Zhang, Wenyuan ; Tang, Yang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-11-01), Heft 11, S. 4660-4665
    Online academicJournal
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    CMOS Image Sensor Noise Analysis Through Noise Power Spectral Density Including Undersampling Effect Due to Readout Sequence.
    Martin-Gonthier, Philippe ; Magnan, Pierre
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 61 (2014-08-01), Heft 8, S. 2834-2842
    Online academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Single-Event Latchup in a CMOS-Based ASIC Using Heavy Ions, Laser Pulses, and Coupled Simulation.
    Mauguet, M. ; Andrianjohany, N. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-07-01), Heft 7, S. 1516-1522
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Design of A Novel Highly EMI-Immune CMOS Miller OpAmp Considering Channel Length Modulation.
    Boyapati, Subrahmanyam ; Redoute, Jean-Michel ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part I: Regular Papers, Jg. 64 (2017-10-01), Heft 10, S. 2679-2690
    Online serialPeriodical
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Multifinger MOSFETs’ Optimization Considering Stress and INWE in Static CMOS Circuits.
    Sharma, Arvind ; Alam, Naushad ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 63 (2016-06-01), Heft 6, S. 2517-2523
    Online academicJournal
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Switching Voltage Analysis of Nanoelectromechanical Memory Switches for Monolithic 3-D CMOS-NEM Hybrid Reconfigurable Logic Circuits.
    Lee, Ho Moon ; Jo, Hyun Chan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-09-01), Heft 9, S. 3780-3785
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Stand-by Power Reduction Using Experimentally Demonstrated Nano-Electromechanical Switch in CMOS Technologies.
    Saha, Sumit ; Singh, Arpit ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-02-01), Heft 2, S. 746-752
    Online academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Compact Modeling of Single-Event Latchup of Integrated CMOS Circuit.
    Al Youssef, A. ; Artola, L. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 66 (2019-07-01), Heft 7, S. 1510-1515
    Online academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Empirical Large-Signal Modeling of mm-Wave FDSOI CMOS Based on Angelov Model.
    Le, Quang Huy ; Huynh, Dang Khoa ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), Heft 4, S. 1446-1453
    Online academicJournal
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xs 0 - 576
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md 768 - 992
lg 992 - 1200
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