Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
619 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Sprache

Geographischer Bezug

619 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Dieser Titel kann aus lizenzrechtlichen Gründen nur im Campusnetz oder nach Anmeldung angezeigt werden!
    academicJournal
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Impact of Stress Mode on Stochastic BTI in Scaled MG/HK CMOS Devices
    KERBER, Andreas ; SRINIVASAN, Purushothaman
    In: IEEE electron device letters, Jg. 35 (2014), Heft 4, S. 431-433
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    A Broadband Model Over 1―220 GHz for GSG Pad Structures in RF CMOS
    JUN, LIU ; ZHIPING, YU ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 35 (2014), Heft 7, S. 696-698
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Low-Noise Avalanche Photodiode With Graded Junction in 0.15-μm CMOS Technology
    PANCHERI, Lucio ; DALLA BETTA, Gian-Franco ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 35 (2014), Heft 5, S. 566-568
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    CMOS On-Chip Stable True-Random ID Generation Using Antenna Effect
    FANG, TANG ; CHEN, Denis G ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 35 (2014), Heft 1, S. 54-56
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Sensitivity controllable CMOS image sensor pixel using control gate overlaid on photodiode
    CHAE, Youngcheol ; CHOE, Kunil ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 28 (2007), Heft 6, S. 495-498
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    High-Q integrated inductor using post-CMOS selectively grown porous silicon (SGPS) technique for RFIC applications
    CHEN, LI ; HUAILIN, LIAO ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 28 (2007), Heft 8, S. 763-766
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    CMOS inverter based on gate-all-around Silicon-Nanowire MOSFETs fabricated using Top-Down approach
    RUSTAGI, S. C ; SINGH, N ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 28 (2007), Heft 11, S. 1021-1024
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Effective Crosstalk Isolation With Post-CMOS Selectively Grown Porous Silicon Technique for Radio Frequency System-on-Chip (SOC) Applications
    CHEN, LI ; HUAILIN, LIAO ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 29 (2008), Heft 9, S. 994-997
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Research on a Highly Sensitive Magnetic-Catalytic CMOS-MEMS Compatible Gas Sensor
    SHEN, Chih-Hsiung ; KE, Shi-Ching
    In: IEEE electron device letters, Jg. 35 (2014), Heft 1, S. 120-122
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Methodology for Determination of Process Induced BTI Variability in MG/HK CMOS Technologies Using a Novel Matrix Test Structure
    KERBER, Andreas
    In: IEEE electron device letters, Jg. 35 (2014), Heft 3, S. 294-296
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    28-nm 2T High-K Metal Gate Embedded RRAM With Fully Compatible CMOS Logic Processes
    CHIN YU, MEI ; WEN CHAO, SHEN ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 34 (2013), Heft 10, S. 1253-1255
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Ink-Jet-Printed Organic Thin-Film Transistors for Low-Voltage-Driven CMOS Circuits With Solution-Processed AlOX Gate Insulator
    SUNG HOON, KIM ; SUN HEE, LEE ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 34 (2013), Heft 2, S. 307-309
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Characterization of Multilayer Metal Gate Fuse in 28-nm CMOS Logic Technology
    HSIEH, Min-Che ; LIN, Yu-Cheng ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 34 (2013), Heft 9, S. 1088-1090
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Young's modulus measurements in standard IC CMOS processes using MEMS test structures
    MARSHALL, Janet C ; HERMAN, David L ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 28 (2007), Heft 11, S. 960-963
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Effect of B2H6 Plasma Doping on the Shallow Trench Isolation in CMOS Image Sensor Device
    SUNG GYU, PYO ; JI HWAN, PARK ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 33 (2012), Heft 11, S. 1580-1582
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    CMOS-Integrated Poly-SiGe Piezoresistive Pressure Sensor
    GONZALEZ, P ; RAKOWSKI, M ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 33 (2012), Heft 8, S. 1204-1206
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A Fully Differential CMOS―MEMS DETF Oxide Resonator With Q > 4800 and Positive TCF
    CHEN, Wen-Chien ; LI, Ming-Huang ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 33 (2012), Heft 5, S. 721-723
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Multiple-Gate CMOS Thin-Film Transistor With Polysilicon Nanowire
    IM, Maesoon ; HAN, Jin-Woo ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 29 (2008), Heft 1, S. 102-105
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -