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    RTS Noise Reduction in CMOS Image Sensors Using Correlated Extrema Cancellation
    Bhattacharya, A. ; Tanya, T. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 71 (2024-05-01), Heft 5, S. 3050-3055
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    An Automated Static CMOS Schematic Generation Using MATLAB
    G, Kapinesh ; K, Sachin Kumaran ; et al.
    In: 2023 2nd International Conference for Innovation in Technology (INOCON), 2023-03-03, S. 1-6
    Konferenz
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  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    CMOS Platform for Everyday Applications Using Submillimeter Electromagnetic Waves
    O, K.K. ; Choi, W. ; et al.
    In: IEEE Open Journal of the Solid-State Circuits Society, Jg. 3 (2023), S. 17-31
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Machine Learning-Based Modeling of Hot Carrier Injection in 40 nm CMOS Transistors
    Xhafa, X. ; Gungordu, A.D. ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 12 (2024), S. 281-288
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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    1-V 87-nW CMOS Rail-to-Rail Amplifier Using an Optimization methodology
    Lberni, Abdelaziz ; Marktani, Malika Alami ; et al.
    In: 2022 International Conference on Microelectronics (ICM), 2022-12-04, S. 54-57
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A D-Band Multichannel TX System-in-Package Achieving 84.48 Gb/s With 64-QAM Based on 45-nm CMOS and Low-Cost PCB Technology
    Hamani, A. ; Foglia Manzillo, F. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Jg. 70 (2022-07-01), Heft 7, S. 3385-3395
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Investigation of 0.18μm CMOS Sensitivity to BTI and HCI Mechanisms under Extreme Thermal Stress Conditions
    Tran, Yen ; Nomura, Toshihiro ; et al.
    In: 2021 IEEE 30th Asian Test Symposium (ATS), 2021-11-01, S. 97-102
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A Hybrid Spin-CMOS Flash ADC based on Spin Hall Effect and Spin Transfer Torque
    Ghanatian, Hamdam ; Farkhani, Hooman ; et al.
    In: 2022 IEEE 40th International Conference on Computer Design (ICCD), 2022-10-01, S. 701-704
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Dose Effects on Bipolar Transistors Belonging to a CMOS SOI Process
    Michez, Alain ; Boch, Jerome ; et al.
    In: 2022 22nd European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), 2022-10-03, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Pioneering work on low power low voltage CMOS technology and design performed in Switzerland, 1966 – 1980
    Wyss, Hugo
    In: 2019 6th IEEE History of Electrotechnology Conference (HISTELCON), 2019-09-01, S. 7-10
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A 10 Gb/s Line Driver in 65 nm CMOS Technology for Radiation-Pervaded and High-Temperature Applications
    Ciarpi, G. ; Mestice, M. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 11 (2023), S. 76941-76952
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Design and Evaluation of an All-Digital Programmable Delay Line in 130-nm CMOS
    Morales, Juan I. ; Chierchie, Fernando ; et al.
    In: 2019 XVIII Workshop on Information Processing and Control (RPIC), 2019-09-01, S. 209-213
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    The case of using CMOS FD-SOI rather than CMOS bulk to harden ICs against laser attacks
    Dutertre, Jean-Max ; Beroulle, Vincent ; et al.
    In: 2018 IEEE 24th International Symposium on On-Line Testing And Robust System Design (IOLTS), 2018-07-01, S. 214-219
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    CMOS Plasmon Detector With Three Different Body-Biasing MOSFETs
    Lee, H. ; Han, S. ; et al.
    In: IEEE Access, Jg. 8 (2020), S. 215840-215850
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Class-E Power Amplifiers Incorporating Fingerprint Augmentation With Combinatorial Security Primitives for Machine-Learning-Based Authentication in 65 nm CMOS
    Shen, Y. ; Xu, J. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 69 (2022-05-01), Heft 5, S. 1896-1909
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A Hybrid Scheme for Minimizing Leakage Current in CMOS-Based Architectures by Employing Multiple Supply Voltages and Power Gating Techniques
    Itradat, Awni ; Bqerat, Ashraf
    In: 2018 2nd European Conference on Electrical Engineering and Computer Science (EECS), 2018-12-01, S. 100-104
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Abnormal On-Current Degradation Under Non-Conductive Stress in Contact Field Plate Lateral Double-Diffused Metal-Oxide- Semiconductor Transistor With 0.13-μm Bipolar-CMOS-DMOS Technology
    Hung, W. ; Tu, Y. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022-05-01), Heft 5, S. 769-772
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    An Evaluation of CMOS Inverter Operation Under Cryogenic Conditions
    Cherepanov, Anton A. ; Novikov, Ilya L. ; et al.
    In: 2018 19th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices (EDM), 2018-06-01, S. 40-43
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    CMOS electronics probe inside a cellular network — Invited review paper
    Abbott, Jeffrey ; Qin, Ling ; et al.
    In: 2018 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 2018-04-01, S. 1-7
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    A Versatile CMOS Transistor Array IC for the Statistical Characterization of Time-Zero Variability, RTN, BTI, and HCI
    Diaz-Fortuny, J. ; Martin-Martinez, J. ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 54 (2019-02-01), Heft 2, S. 476-488
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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