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    Extracting a Logic Gate Network from a Transistor-Level CMOS Circuit.
    Cheremisinov, D. I. ; Cheremisinova, L. D.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 48 (2019-05-01), Heft 3, S. 187-196
    Online academicJournal
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    CMOS logic elements with increased failure resistance to single-event upsets.
    Ol'chev, S. I. ; Stenin, V. Ya.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 40 (2011-05-01), Heft 3, S. 156-169
    Online academicJournal
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    Electrothermal behavior of the elements of SOS CMOS chips.
    Gerasimchuk, O. A. ; Epifantsev, K. A. ; et al.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 40 (2011-05-01), Heft 3, S. 215-224
    Online academicJournal
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    The impact of laser polarization direction on local dose rate effects simulation for modern integrated circuits.
    Skorobogatov, P. ; Sogoyan, A. ; et al.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 44 (2015), Heft 1, S. 22-26
    Online academicJournal
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    Ring voltage controlled oscillator for high-speed PLL systems.
    Bistritskii, S. ; Klyukin, V. ; et al.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 43 (2014-12-01), Heft 7, S. 472-476
    Online academicJournal
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    Selection of optimal parameters of laser radiation for simulating ionization effects in silicon bulk-technology microcircuits.
    Nikiforov, A. ; Skorobogatov, P. ; et al.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 43 (2014-03-01), Heft 2, S. 133-138
    Online academicJournal
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  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Radiation-induced degradation in the dynamic parameters of memory chips.
    Boruzdina, A. ; Ulanova, A. ; et al.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 41 (2012-07-01), Heft 4, S. 259-265
    Online academicJournal
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    Diagnosing reliability of integrated circuits using noises and the ESD effect.
    Gorlov, M. ; Smirnov, D. ; et al.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 39 (2010), Heft 1, S. 19-25
    Online academicJournal
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