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    New modeling approach of on-chip interconnects for RF integrated circuits in CMOS technology
    YMERI, H ; NAUWELAERS, B ; et al.
    In: Microelectronics international, Jg. 20 (2003), Heft 3, S. 4-5
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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    A new method for measuring signal integrity in CMOS ICs
    DELMAS-BENDHIA, S ; CAIGNET, F ; et al.
    In: Microelectronics international, Jg. 17 (2000), Heft 1, S. 17-21
    Online Konferenz
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    Wie komme ich dran?
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    Voltage scaling : a novel approach for crosstalk reduction in global VLSI interconnects
    KAUSHIK, B. K ; SARKAR, S ; et al.
    In: Microelectronics international, Jg. 24 (2007), Heft 1, S. 40-45
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Repeater stage timing analysis for VLSI resistive interconnects
    CHANDEL, Rajeevan ; SARKAR, S ; et al.
    In: Microelectronics international, Jg. 23 (2006), Heft 3, S. 19-25
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Delay analysis of a single voltage-scaled- repeater driven long interconnect
    CHANDEL, Raieevan ; SARKAR, S ; et al.
    In: Microelectronics international, Jg. 22 (2005), Heft 3, S. 28-33
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Effect of line resistance and driver width on crosstalk in coupled VLSI interconnects
    BRAJESH KUMAR, KAUSHIK ; SARKAR, Sankar ; et al.
    In: Microelectronics international, Jg. 24 (2007), Heft 3, S. 42-45
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Repeater insertion in global interconnects in VLSI circuits
    CHANDEL, Rajeevan ; SARKAR, S ; et al.
    In: Microelectronics international, Jg. 22 (2005), Heft 1, S. 43-50
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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