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    A test structure for contact and via failure analysis in deep-submicrometer CMOS technologies
    CABRINI, Alessandro ; CANTARELLI, Daniele ; et al.
    In: IEEE transactions on semiconductor manufacturing, Jg. 19 (2006), Heft 1, S. 57-66
    Online Konferenz
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    Volltext
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    Single chip integration of MWCNTs/SiO2 thin film humidity sensor based on standard CMOS IC process
    TUO, LI ; XIAOWEI, LIU ; et al.
    In: Micro/Nano Devices and Systems 2013: An open thematic journal issue, Jg. 119 (2014), S. 155-158
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A power-efficient clock and data recovery circuit in 0.18 μm CMOS technology for multi-channel short-haul optical data communication
    TAJALLI, Armin ; MULLER, Paul ; et al.
    In: IEEE journal of solid-state circuits, Jg. 42 (2007), Heft 10, S. 2235-2244
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Integration of triple-band GSM antenna switch module using SOI CMOS
    BONKOWSKI, James ; KELLY, Dylan
    In: 2004 IEEE radio frequency integrated circuits (RFIC) symposium (Fort Worth Convention Center, June 6-8, 2004), 2004, S. 511-514
    Konferenz
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    Localized Growth of Carbon Nanotubes on CMOS Substrate at Room Temperature Using Maskless Post-CMOS Processing
    YING, ZHOU ; JOHNSON, Jason Lee ; et al.
    In: IEEE transactions on nanotechnology, Jg. 11 (2012), Heft 1, S. 16-20
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Low-loss differential semicoaxial interconnects in CMOS process
    JIN, Jun-De ; HSU, Shawn S. H ; et al.
    In: Bridge to the future: 2006 IEEE MTT-S International Microwave Symposium, 11-16 June 2006, San Francisco, CA, USA, Jg. 54 (2006), Heft 12, S. 4333-4340
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    CMOS microelectrode array for bidirectional interaction with neuronal networks
    HEER, Flavio ; HAFIZOVIC, Sadik ; et al.
    In: 2005 European solid state circuits conference (ESSCIRC), Jg. 41 (2006), Heft 7, S. 1620-1629
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    CMOS circuit technology for precise GHz timing generator
    OKAYASU, Toshiyuki ; SUDA, Masakatsu ; et al.
    In: ITC : international test conference 2002 (Baltimore MD, 7-10 October 2002), 2002, S. 894-902
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    70-GHz effective sampling time-base on-chip oscilloscope in CMOS
    SAFI-HARB, Mona ; ROBERTS, Gordon W
    In: Special issue on the CICC 2006, Jg. 42 (2007), Heft 8, S. 1743-1757
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Transmission lines fabricated with CMOS interconnect technology
    GUO, LIHUI ; ZHANG, YIBIN ; et al.
    In: INFOS 2003 Proceedings of the 13th Biennial Conference on Insulating Films on Semiconductors: June 18-20, Jg. 72 (2004), Heft 1-4, S. 223-229
    Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Improving symbolic analysis in CMOS analog integrated circuits
    AGUILA-MEZA, J ; TORRES-PAPAQUI, L ; et al.
    In: 2004 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (proceedings), 2004, S. 193-196
    Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Implementation of a low power motion detection camera processor using a CMOS image sensor
    SUH HO, LEE ; WOOKKIM, Seon ; et al.
    In: 2004 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (proceedings), 2004, S. 737-740
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    An accurate RF CMOS gate resistance model compatible with HSPICE
    LIN, H. W ; CHUNG, S. S ; et al.
    In: 2004 international conference on microelectronic test structures (March 22-25, 2004, S. 227-230
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Simulation and Design Methodology for Hybrid SET-CMOS Integrated Logic at 22-nm Room-Temperature Operation
    PAREKH, Rutu ; BEAUMONT, Arnaud ; et al.
    In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 59 (2012), Heft 4, S. 918-923
    Online academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Graphene Nanoribbon Spin Interconnects for Nonlocal Spin-Torque Circuits: Comparison of Performance and Energy Per Bit With CMOS Interconnects
    RAKHEJA, Shaloo ; NAEEMI, Azad
    In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 59 (2012), Heft 1, S. 51-59
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A 25-Gb/s CDR in 90-nm CMOS for high-density interconnects
    KROMER, Christian ; SIALM, Gion ; et al.
    In: 2006 IEEE International Solid-State Circuits Conference, Jg. 41 (2006), Heft 12, S. 2921-2929
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Low-Cost Error Tolerance Scheme for 3-D CMOS Imagers
    CHANG, Hsiu-Ming ; HUANG, Jiun-Lang ; et al.
    In: IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, Jg. 21 (2013), Heft 3, S. 465-474
    Online academicJournal
    Zugriff:
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Wafer Scale Integration of CMOS Chips for Biomedical Applications via Self-Aligned Masking
    UDDIN, Ashfaque ; MILANINIA, Kaveh ; et al.
    In: IEEE transactions on components, packaging, and manufacturing technology (2011. Print), Jg. 1 (2011), Heft 11-12, S. 1996-2004
    Online academicJournal
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    CMOS Circuits Based on a Stacked Structure Using Silicone-Resin as Dielectric Layers : Recent Progress in Molecular and Organic Devices
    KIKUCHI, Kodai ; PU, Fanghua ; et al.
    In: IEICE transactions on electronics, Jg. 94 (2011), Heft 2, S. 136-140
    academicJournal
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Device and Architecture Outlook for Beyond CMOS Switches
    BERNSTEIN, Kerry ; CAVIN, Ralph K ; et al.
    In: NANOELECTRONICS RESEARCH FOR BEYOND CMOS INFORMATION PROCESSING, Jg. 98 (2010), Heft 12, S. 2169-2184
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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