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  1. LEDUC, Patrick ; FARJOT, Thierry ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 83 (2006), Heft 11-12, S. 2072-2076
    Konferenz
  2. GOTTFRIED, K ; SCHUBERT, I ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 83 (2006), Heft 11-12, S. 2218-2224
    Konferenz
  3. YEH, Ching-Fa ; HSIAO, Chih-Wen ; et al.
    In: ISCSI-4: Proceedings of the Fourth International Symposium on the Control of Semiconductor Interfaces, Karuizawa, Japan, October 21-25, 2002, Jg. 216 (2003), Heft 1-4, S. 46-53
    Konferenz
  4. MIYOSHI, H ; SAITO, R ; et al.
    In: Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS XIII: Proceedings of the Thirteenth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry and Related Topics Nara-Ken New Public Hall, Jg. 203-04 (2003), S. 473-477
    Konferenz
  5. EMLING, R ; SCHINDLER, G ; et al.
    In: Proceedings of the ninth european workshop on materials for advanced metallization 2005, 6-9 March 2005, Dresden, Germany, Jg. 82 (2005), Heft 3-4, S. 273-276
    Konferenz
  6. YI, Seol-Min ; SHIM, Cheonman ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 85 (2008), Heft 3, S. 621-624
    academicJournal
  7. KIM, Nam-Hoon ; CHOI, Min-Ho ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 83 (2006), Heft 3, S. 506-512
    academicJournal
  8. CHAN, Chia-Hao ; JEM KUN, CHEN ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 75 (2004), Heft 3, S. 257-262
    academicJournal
  9. SCHULZE, K ; SCHULZ, S. E ; et al.
    In: Materials for Advanced Metallization, MAM 2004. Proceedings of the European Workshop on Materials for Advanced Metallization 2004, Brussels, Belgium, March 7-10, Jg. 76 (2004), Heft 1-4, S. 38-45
    Konferenz
  10. CHANG, T. C ; TSAI, T. M ; et al.
    In: Proceedings of the 30th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films, San Diego, California, April 28-May 2, 2003, Jg. 447-48 (2004), S. 524-530
    Konferenz
  11. HEYVAERT, I ; VAN HOVE, M ; et al.
    In: Materials for Advanced Metallization MAM'99, Jg. 50 (2000), Heft 1-4, S. 291-299
    Konferenz
  12. NISHI, A ; SADO, M ; et al.
    In: Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS XIII: Proceedings of the Thirteenth International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry and Related Topics Nara-Ken New Public Hall, Jg. 203-04 (2003), S. 470-472
    Konferenz
  13. NGUYEN, V ; VANKRANENBURG, H ; et al.
    In: Materials for Advanced Metallization MAM'99, Jg. 50 (2000), Heft 1-4, S. 403-410
    Konferenz
  14. FAYOLLE, M ; SICURANI, E ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 37-38 (1997), S. 347-352
    academicJournal
  15. FAYOLLE, M ; ROMAGNA, F
    In: Microelectronic engineering, Jg. 37-38 (1997), S. 135-141
    academicJournal
  16. TARDIF, F ; CONSTANT, I ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 37-38 (1997), S. 285-291
    academicJournal
  17. CHEN, K. W ; WANG, Y. L ; et al.
    In: Proceedings of the 30th International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films, San Diego, California, April 28-May 2, 2003, Jg. 447-48 (2004), S. 531-536
    Konferenz
  18. IACOPI, F ; PATZ, M ; et al.
    In: Materials for Advanced Metallization, MAM 2003: Proceedings of the European Workshop on Materials for Advanced Metallization 2003, La Londe Les Maures, France, March 9-12, Jg. 70 (2003), Heft 2-4, S. 293-301
    Konferenz
  19. RAMAKRISHNAN, S ; JANJAM, S. V. S. B ; et al.
    In: Microelectronic engineering, Jg. 84 (2007), Heft 1, S. 80-86
    academicJournal
  20. PISANI, M. B ; HIBERT, C ; et al.
    In: Proceedings of the 29th Conference on Micro and Nano Engineering, September 22-25, 2003, Cambridge, United Kingdom, Jg. 73-74 (2004), S. 474-479
    Konferenz
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