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  1. FUKUDA, Kenjiro ; SEKITANI, Tsuyoshi ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 32 (2011), Heft 10, S. 1448-1450
    Online academicJournal
  2. Rustagi, S. C. ; Singh, N. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 28 (2007-11-01), Heft 11, S. 1021-1024
    Online academicJournal
  3. Chi, Li-Jen ; Yu, Ming-Jiue ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 37 (2016-04-01), Heft 4, S. 441-444
    Online academicJournal
  4. Kupke, Steve ; Knebel, Steve ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 36 (2015-05-01), Heft 5, S. 430-432
    Online academicJournal
  5. Li, Xiang ; Chen, Zhixian ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 32 (2011-11-01), Heft 11, S. 1492-1494
    Online academicJournal
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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