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  1. Overwater, R.W.J. ; Babaie, M. ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 45 (2024-02-01), Heft 2, S. 152-155
    Online academicJournal
  2. Chettri, D. ; Mainali, G. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 70 (2023-10-01), Heft 10, S. 5051-5056
    Online academicJournal
  3. Caglar, A. ; Van Winckel, S. ; et al.
    In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 58 (2023-06-01), Heft 6, S. 1586-1596
    Online academicJournal
  4. Javaid, A. ; Achar, R. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Jg. 71 (2023-04-01), Heft 4, S. 1428-1438
    Online academicJournal
  5. Radosavljevic, Marko ; Huang, C. Y. ; et al.
    In: 2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023-12-09, S. 1-4
    Konferenz
  6. Mondal, Samanwita ; Ghosh, Saptaparna ; et al.
    In: 2022 International Interdisciplinary Conference on Mathematics, Engineering and Science (MESIICON), 2022-11-11, S. 1-4
    Konferenz
  7. Verma, V.K. ; Tripathi, J.N.
    In: IEEE Transactions on Signal and Power Integrity, Jg. 2 (2023), S. 64-73
    Online academicJournal
  8. Sangalang, R.G.B. ; Reddy, S. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Jg. 70 (2023-10-01), Heft 10, S. 3862-3866
    Online academicJournal
  9. Verma, V.K. ; Tripathi, J.N.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 69 (2022-10-01), Heft 10, S. 5462-5469
    Online academicJournal
  10. Oshima, T. ; Nakamura, Y. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Jg. 69 (2022-03-01), Heft 3, S. 934-938
    Online academicJournal
  11. Lee, Elim ; Kim, Youngmin
    In: 2023 20th International SoC Design Conference (ISOCC), 2023-10-25, S. 315-316
    Konferenz
  12. Garg, Neha ; Pratap, Yogesh ; et al.
    In: 2022 IEEE 9th Uttar Pradesh Section International Conference on Electrical, Electronics and Computer Engineering (UPCON), 2022-12-02, S. 1-6
    Konferenz
  13. Kumar, S. ; Nagesh, C.
    In: 2020 24th International Symposium on VLSI Design and Test (VDAT), 2020-07-01, S. 1-6
    Konferenz
  14. LAKEH, Mohammadreza DOLATPOOR ; KAMMERER, Jean-Baptiste ; et al.
    In: 2020 IEEE SENSORS, 2020-10-25, S. 1-4
    Konferenz
  15. Kumar, P. ; Krishnapura, N.
    In: IEEE Solid-State Circuits Letters, Jg. 6 (2023), S. 237-240
    Online academicJournal
  16. Ker, M. ; Jiang, Z.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 11 (2023), S. 141-152
    Online academicJournal
  17. Arora, P. ; Tripathi, J.N. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-07-01), Heft 7, S. 3268-3275
    Online academicJournal
  18. Zheng, Yan ; Ye, Fan ; et al.
    In: 2020 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2020-10-01, S. 1-4
    Konferenz
  19. Wuerdig, Rodrigo N. ; Lima, Vitor G. ; et al.
    In: 2020 IEEE 11th Latin American Symposium on Circuits & Systems (LASCAS), 2020-02-01, S. 1-4
    Konferenz
  20. Katunin, Yuri V. ; Stenin, Vladimir Ya.
    In: 2019 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS), 2019-09-01, S. 1-4
    Konferenz
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