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  1. Reddy, Shiva ; Sangalang, Ralph Gerard B. ; et al.
    In: 2022 International Conference on IC Design and Technology (ICICDT), 2022-09-21, S. 24-27
    Konferenz
  2. Katunin, Yuri V. ; Stenin, Vladimir Ya.
    In: 2016 International Siberian Conference on Control and Communications (SIBCON), 2016-05-01, S. 1-5
    Konferenz
  3. Verma, Vaibhav ; Akhtar, Fiza ; et al.
    In: 2020 24th International Symposium on VLSI Design and Test (VDAT), 2020-07-01, S. 1-6
    Konferenz
  4. Frohlich, Saman ; Shirinzadeh, Saeideh ; et al.
    In: 2019 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), 2019-07-01, S. 431-436
    Konferenz
  5. Stenin, Vladimir Ya. ; Levin, Konstantin E.
    In: 2016 International Siberian Conference on Control and Communications (SIBCON), 2016-05-01, S. 1-5
    Konferenz
  6. Lee, Wei-Han ; Lin, Jyi-Tsong ; et al.
    In: 2015 Fourth Berkeley Symposium on Energy Efficient Electronic Systems (E3S), 2015-10-01, S. 1-3
    Konferenz
  7. Pawlowski, Robert ; Crop, Joseph ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE 2014 Custom Integrated Circuits Conference, 2014-09-01, S. 1-4
    Konferenz
  8. Singh, Narendra Bahadur ; Rai, Dharmendra Kumar ; et al.
    In: 2013 International Conference on Advanced Electronic Systems (ICAES), 2013-09-01, S. 122-126
    Konferenz
  9. Torres, Lionel ; Brum, Raphael Martins ; et al.
    In: 2013 IEEE 11th International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS), 2013-06-01, S. 1-6
    Konferenz
  10. Fazli Yeknami, Ali ; Hansson, Martin ; et al.
    In: Proceedings of 2010 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test, 2010-04-01, S. 78-81
    Konferenz
  11. Chen, Sih-Yu ; Wang, Chua-Chin
    In: 2012 IEEE International Conference on IC Design & Technology, 2012-05-01, S. 1-4
    Konferenz
  12. Chen, Allen ; Hoppal, Ryan ; et al.
    In: 2010 13th Euromicro Conference on Digital System Design: Architectures, Methods and Tools, 2010-09-01, S. 628-634
    Konferenz
  13. Stenin, Vladimir Ya. ; Antonyuk, Artem V. ; et al.
    In: 2017 25th Telecommunication Forum (TELFOR), 2017-11-01, S. 1-4
    Konferenz
  14. Hirakawa, Yutaka ; Motomura, Ayami ; et al.
    In: 2012 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, 2012-03-01, S. 18-22
    Konferenz
  15. Calhoun, B.H. ; Chandrakasan, A.
    In: 2006 IEEE International Solid State Circuits Conference - Digest of Technical Papers, Solid-State Circuits Conference, 2006. ISSCC, 2006, S. 2592-2601
    Konferenz
  16. Boussaid, F. ; Shoushun, Chen ; et al.
    In: International Conference on Design and Test of Integrated Systems in Nanoscale Technology, 2006. DTIS, 2006, S. 131-135
    Konferenz
  17. Stenin, Vladimir Ya. ; Antonyuk, Artem V. ; et al.
    In: 2017 International Siberian Conference on Control and Communications (SIBCON), 2017-06-01, S. 1-6
    Konferenz
  18. Biswas, Avishek ; Arslan, Umut ; et al.
    In: 2017 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 2017-04-01, S. 1-4
    Konferenz
  19. Rodriguez, R. ; Stathis, J.H. ; et al.
    In: 2003 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2003. 41st, 2003, S. 11-16
    Konferenz
  20. Joubert, T. H. ; Seevinck, E. ; et al.
    In: 2000 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Jg. 3 (2000), S. 335-338
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -