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    Nanoscale investigation of organic semiconductor films by vacuum evaporation and mist deposition using AFM/KFM measurement
    Odaka, Akihiro ; Satoh, Nobuo ; et al.
    In: 2016 19th International Conference on Electrical Machines and Systems (ICEMS), 2016-11-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Local polarization in strontium barium niobate (SBN) epitaxial thin films investigated using Kelvin Force Microscopy (KFM)
    Cuniot-Ponsard, Mireille
    In: Proceedings of ISAF-ECAPD-PFM 2012, Applications of Ferroelectrics held jointly with 2012 European Conference on the Applications of Polar Dielectrics and 2012 International Symp Piezoresponse Force Microscopy and Nanoscale Phenomena in Polar Materials (ISAF/ECAPD/PFM), 2012-07-01, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    A Comparative Study of the Corrosion Behavior of Mild Steel Nanoparticles in Natural Seawater and in 3.5% NaCl Solution by AFM and KFM Techniques
    Joseph Raj, X.
    In: Journal of Failure Analysis and Prevention, Jg. 18 (2018-04-01), Heft 2, S. 364-370
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record at Springer (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Study on Sub-100-NM-Scale Measurement of Temperature Distribution in Joule-Heated Au Nanosheet Gas Sensors Using Self-Assembled Monolayers as Temperature Probes
    Kato, Taro ; Tanaka, Takahisa ; et al.
    In: 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2023-03-07, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Charge De-trapping in SiN characterized by KFM / KFMによるSiN膜中捕獲電荷の放出特性評価
    Ozawa, Koudai ; Hasunuma, Ryu ; et al.
    2017
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Influence of trap charges on surface temperature measurement of Si by KFM / KFMを用いたSiの表面温度測定におけるトラップ電荷の影響
    Oka, Akito ; Salleh, Faiz ; et al.
    2017
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    KFMを用いたSi3N4膜中捕獲電荷の膜質劣化に伴う再分布特性変化の評価
    The Variation of Charge Redistribution Owing to Deterioration of Si3N4 Evaluated by KFM
    2018
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    利用KFM 探究半导体量子点载流子分布实验设计. (Chinese)
    杰, 许 ; 李金泽 ; et al.
    In: Experimental Technology & Management, Jg. 37 (2020-03-01), Heft 3, S. 53-56
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    KFMを用いたInAs量子ドット表面近傍のバンド解析 / Near-surface energy band analysis of InAs quantum dots using KFM
    Yamada, Fumihiko ; Kamiya, Itaru ; et al.
    2017
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    KFMを用いたフェルミエネルギーの温度依存性測定
    Temperature Dependence of Fermi Energy Evaluated by KFM
    2017
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    KFMを用いた局所温度測定
    Local Temperature Measurement by Using KFM
    2016
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    利用KFM研究浮栅结构存储特性的实验设计. (Chinese)
    许杰 ; 刘小花 ; et al.
    In: Experimental Technology & Management, Jg. 35 (2018-09-01), Heft 9, S. 64-67
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Local workfunction mapping on a flat p-n junction using KFM / 平坦なp-n接合断面における局所仕事関数測定
    Yamada, Fumihiko ; Mizuno, Hiroto ; et al.
    2017
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    KFM法によるSi(111)基板上BaSi2PN接合の観察
    Observation of a BaSi2 pn junction on Si(111) by Kelvin probe force microscopy
    2014
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Photovoltages and Their Dependence on Incident Light Wavelengths on CIGS Solar Cells Investigated by P-KFM
    Yong, Hyeondeuk ; Minemoto, Takashi ; et al.
    2015
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Surface potential distribution of BaSi2 thin film on multicrystalline Si by Kelvin probe force microscopy / 多結晶Si上に成長したBaSi2薄膜表面のKFM法によるポテンシャル分布評価
    Toko, Kaoru ; Baba, Masakazu ; et al.
    2015
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    KFM法によるバイアス印加時Si(111)基板上BaSi2 pn接合におけるポテンシャル観察
    Observation of potential distribution around BaSi2 pn junction on Si(111) under applied bias by Kelvin probe force microscopy
    2015
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    KFM Measurement of Nano-Scale Selectively Doped Silicon Channel
    Moraru, Daniel ; Tyszka, Krzysztof ; et al.
    2013
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    KFMによるハイパーブランチポリスチレン保護金ナノ粒子の表面電位測定
    康男, 東 ; 豊, 真島 ; et al.
    2013
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    KFM 法によるB 添加p 型BaSi2 エピタキシャル薄膜表面のポテンシャル分布
    Surface potential distribution of B-doped p-type BaSi2 epitaxial thin films on Si(111)by Kelvin probe force microscopy
    2014
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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