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  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Strain Engineering Effects on Electrical Properties of Lead-free Piezoelectric Thin Films on Si Wafers.
    Ohno, Tomoya ; Kamai, Yuto ; et al.
    In: Acta Chimica Slovenica, Jg. 61 (2014-09-01), Heft 3, S. 453-456
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Structural, dielectric, ferroelectric and optical properties of PBCT, PBST and PCST complex thin films on LaNiO<subscript>3</subscript> metallic conductive oxide layer coated Si substrates by the CSD technique.
    Pontes, D.S.L. ; Chiquito, A.J. ; et al.
    In: Journal of Alloys & Compounds, Jg. 609 (2014-10-05), S. 33-39
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Preparation and evaluation of LaNiO<subscript>3</subscript> thin film electrode with chemical solution deposition
    Miyazaki, Hidetoshi ; Goto, Takashi ; et al.
    In: Journal of the European Ceramic Society, Jg. 24 (2004-06-01), Heft 6, S. 1005-1008
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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