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    A macro model of RF Schottky diode in 22-nm CMOS and its application
    Jiang, Yanfeng ; Yu, Pingping ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 154 (2019-04-01), S. 7-11
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    Interconnect effects on thermal resistance of CMOS-SOI transistors in microwave power integrated circuits
    Alluri, Sravya ; Jayamon, Jefy A. ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 186 (2021-12-01), S. 108149-108149
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    Monolithic integration of GMR sensors for standard CMOS-IC current sensing
    A. De Marcellis ; Freitas, Paulo P. ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 135 (2017-09-01), S. 100-104
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    Integrated on-chip solid state capacitor based on vertically aligned carbon nanofibers, grown using a CMOS temperature compatible process
    Andersson, Rickard ; Desmaris, Vincent ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 139 (2018), S. 75-79
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    Comprehensive understanding of dark count mechanisms of single-photon avalanche diodes fabricated in deep sub-micron CMOS technologies
    Xu, Yux ; Xiang, Ping ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 129 (2017-03-01), S. 168-174
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    A high-speed lateral PIN polysilicon photodiode on standard bulk CMOS process
    Chen, Diping ; Zeng, Yun ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 129 (2017-03-01), S. 61-65
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    An ultra-wideband CMOS PA with dummy filling for reliability
    Luhmann, Neville C. ; Domier, Calvin ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 129 (2017-03-01), S. 125-133
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    Investigation of electrical characteristics of flexible CMOS devices fabricated with thickness-controlled spalling process
    Noh, Yeho ; Jung, Jaedong ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 173 (2020-11-01), S. 107901-107901
    Online unknown
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    Integration of GMR-based spin torque oscillators and CMOS circuitry
    Chen, Tingsu ; Rodriguez, Saul ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 111 (2015-09-01), S. 91-99
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    Novel logic device for CMOS standard I/O cell with tolerance to total ionizing dose effects
    Cho, Seong-Ik ; Lee, Minwoong ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 162 (2019-12-01), S. 107630-107630
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Effects of shallow trench isolation on low frequency noise characteristics of source-follower transistors in CMOS image sensors
    Kwon, Sung-Kyu ; Song, Hyeong-Sub ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 119 (2016-05-01), S. 29-32
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    In-situ heater for thermal assist recovery of MOS devices in 28 nm UTBB FD-SOI CMOS technology
    Galy, Ph. ; Lethiecq, R. ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 168 (2020-06-01), S. 107737-107737
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    CMOS compatible on-chip decoupling capacitor based on vertically aligned carbon nanofibers
    Desmaris, Vincent ; Amin M Saleem ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 107 (2015-05-01), S. 15-19
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A defect-based compact modeling approach for the reliability of CMOS devices and integrated circuits
    Ivan Sanchez Esqueda ; Barnaby, Hugh J.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 91 (2014), S. 81-86
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    60-GHz transmit/receive switch using a p–n diode and MOS transistors in 130-nm CMOS
    Kenneth, K. O ; Mao, Chuying
    In: Solid-State Electronics, Jg. 79 (2013), S. 79-86
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    IGBT Scaling Principle Toward CMOS Compatible Wafer Processes
    Omura, Ichiro ; Tanaka, Masahiro
    In: Solid-State Electronics, Jg. 80 (2012-12-20), S. 118-123
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Analytical modelling of size effects on the lateral photoresponse of CMOS photodiodes
    Blanco-Filgueira, B. ; Juan Bautista Roldán ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 73 (2012-07-01), S. 15-20
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    An approach based on neural computation to simulate the nanoscale CMOS circuits: Application to the simulation of CMOS inverter
    Djeffal, Fayçal ; Hafiane, M.L. ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 51 (2007), S. 48-56
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    A study of gateless OTP cell using a 45nm CMOS compatible process
    Chrong Jung Lin ; Shih, H. C. ; et al.
    In: Solid-State Electronics, Jg. 53 (2009-10-01), S. 1092-1098
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    Visible and NIR integrated Phototransistors in CMOS technology
    Gaberl, Wolfgang ; Zimmermann, Horst ; et al.
    In: Solid-State Electronics, 2011-11-01, S. 211-218
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