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    Imaging structure and composition homogeneity of 300 mm SiGe virtual substrates for advanced CMOS applications by scanning X-ray diffraction microscopy
    Zaumseil, Peter ; Marvin Hartwig Zoellner ; et al.
    2015
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Ultrathin Ion-Sensitive Field-Effect Transistor Chips with Bending-Induced Performance Enhancement
    Christou, Adamos ; Manjakkal, Libu ; et al.
    In: ACS Applied Electronic Materials, Jg. 2 (2020-07-01), Heft 8, S. 2601-2610
    Online unknown
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    An Integrated Smartphone-Based Genetic Analyzer for Qualitative and Quantitative Pathogen Detection
    Tae Seok Seo ; Hau Van Nguyen ; et al.
    In: ACS Omega, Jg. 5 (2020-07-01), Heft 35, S. 22208-22214
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    Controllable Threshold Voltage in Organic Complementary Logic Circuits with an Electron-Trapping Polymer and Photoactive Gate Dielectric Layer
    Murata, Hideyuki ; Ohkubo, Kei ; et al.
    In: ACS Applied Materials & Interfaces, Jg. 8 (2016-06-27), Heft 28, S. 18249-18255
    Online unknown
    Zugriff:
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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