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    Education for Sustainable Development (ESD): A Journey towards Sustainable Future
    Violanda, Maria Victoria G. ; Madrigal, Dennis V.
    In: Technium Social Sciences Journal, Jg. 20 (2021), S. 172-180
    academicJournal
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    OMG - ESD Codified: The Overreaction to Codification of the Economic Substance Doctrine
    Armstrong, Monica D.
    In: Florida A & M University Law Review, Jg. 9 (2013-09-15), Heft Issue 1, S. 113-144
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Historic Boardwalk Hall - Tax Court Focuses on ESD and Partnership Issues in Tax Credit Partnerships
    Gnazzo, Melanie J.
    In: Journal of Passthrough Entities, Jg. 14 (2011-05-01), Heft Issue 3, S. 17-65
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Wie komme ich dran?
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    ADR in the ESD Green Enterprise Zone
    Braun, Richard L.
    In: Michigan Bar Journal, Jg. 89 (2010-06-01), Heft Issue 6, S. 22-25
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Southern Bluefin Tuna Feedlooting - ESD, the Precautionary Principle and Burden of Proof
    Parnell, Mark
    In: Journal of International Wildlife Law and Policy, Jg. 2 (1999), Heft Issue 3, S. 334-337
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Sustaining ESD in Australia
    Endre-Stacy, Helen
    In: Chicago-Kent Law Review, Jg. 69 (1994), Heft Issue 4, S. 935-976
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    In Quarters: Fort Bend County ESD 4 Fulshear Simonton Central Fire Station in Fulshear, TX
    In: Firehouse.com, 2024-02-01
    serialPeriodical
    Wie komme ich dran?
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    System Level Testing for ESD Susceptibility
    In: System Level ESD Co-Design; (2016-06-16)
    Buch
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    Study on CDM ESD Robustness Among On-Chip Decoupling Capacitors in CMOS Integrated Circuits
    Huang, Yi-Chun ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 881-890
    Online unknown
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    Volltext
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Investigating Graphene gNEMS ESD Switch for Design Optimization
    Chen, Qi ; Li, Cheng ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 1172-1180
    Online unknown
    Zugriff:
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Research on ESD Protection of Ultra-High Voltage nLDMOS Devices by Super-Junction Engineering in the Drain-Side Drift Region
    Lan, Tien-Yu ; Lee, Yi-Mu ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 763-773
    Online unknown
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    Enhance the ESD Ability of UHV 300-V Circular LDMOS Components by Embedded SCRs and the Robustness P-Body Well
    Lin, Po-Lin ; Chen, Shen-Li ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 108-113
    Online unknown
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    Design and Analysis of a 28GHz 9KV ESD-Protected Distributed Travelling-Wave TRx Switch in 22nm FDSOI
    Zhang, Feilong ; Li, Chaojiang ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 655-661
    Online unknown
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    ESD Improvements on Power N-Channel LDMOS Devices by the Composite Structure of Super Junctions Integrated With SCRs in the Drain Side
    Chen, Shen-Li ; Chen, Hsun-Hsiang ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 864-872
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    3D TCAD Analysis Enabling ESD Layout Design Optimization
    Pan, Zijin ; Li, Cheng ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 8 (2020), S. 1289-1296
    Online unknown
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    ESD Design and Analysis by Drain Electrode-Embedded Horizontal Schottky Elements for HV nLDMOSs
    Chen, Shen-Li ; Hong, Shi-Zhe
    In: Electronics, Jg. 10 (2021), Heft 178
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Identification of Soft Failure Mechanisms Triggered by ESD Stress on a Powered USB 3.0 Interface
    Maurer, Linus ; Orr, Benjamin ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 61 (2019-02-01), S. 20-28
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    Transient Analysis of ESD Protection Circuits for High-Speed ICs
    Xu, Yang ; Zhou, Jianchi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 63 (2021-10-01), S. 1312-1321
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Statistical Learning of IC Models for System-Level ESD Simulation
    Raginsky, Maxim ; Xiong, Jie ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Jg. 63 (2021-10-01), S. 1302-1311
    Online unknown
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    Robust and Latch-Up-Immune LVTSCR Device with an Embedded PMOSFET for ESD Protection in a 28-nm CMOS Process
    Liu, Hongxia ; Du, Feibo ; et al.
    In: Nanoscale Research Letters, Jg. 15 (2020-11-11)
    Online unknown
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