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    Neutron induced noise degradation of ASICs in 350 nm CMOS technology
    Yaoguang, Liu ; Ying, Zhang ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-10-19), S. T10005
    Online unknown
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    Monolithic pixel development in TowerJazz 180 nm CMOS for the outer pixel layers in the ATLAS experiment
    Musa, Luciano ; Rousset, Jerome ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, 2018
    Online unknown
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    Test beam measurement of ams H35 HV-CMOS capacitively coupled pixel sensor prototypes with high-resistivity substrate
    M. Vicente Barrero Pinto ; Kiehn, Moritz ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, 2018
    Online unknown
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    Micrometric laser characterization of a 300μm fully-depleted monolithic active pixel sensor in standard 110 nm CMOS technology
    Giampaolo, R. A.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 15 (2020-06-24), S. C06052
    Online unknown
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    Development of FELIX based readout system for HV-CMOS sensor testbeam
    M. Vicente Barrero Pinto ; Chen, Kai ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 14 (2019-01-10), S. P01013
    Online unknown
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    Study of the depletion depth in a frontside biased CMOS pixel sensors
    Dorokhov, Andrei ; Baudot, J. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 14 (2019-01-17), S. P01018
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    Charge collection characterisation with the Transient Current Technique of the ams H35DEMO CMOS detector after proton irradiation
    Golling, Tobias ; Kiehn, Moritz ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-10-01), S. P10004
    Online unknown
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    Use of a CMOS image sensor for beta-emitting radionuclide measurements
    Collamati, Francesco ; Biasini, Maurizio ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-07-02), S. P07003
    Online unknown
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  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Photodiode area effect on performance of X-ray CMOS active pixel sensors
    Kim, YS ; Kim, Dongeun ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-02-19), S. C02023
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Characterization of pixel sensor designed in 180 nm SOI CMOS technology
    Tomasek, L. ; Janoska, Z. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-01-19), S. C01025
    Online unknown
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Possible layout solutions for the improvement of the dark rate of geiger mode avalanche structures in the GLOBALFOUNDRIES BCDLITE 0.18 μm CMOS technology
    D'Ascenzo, Nicola ; Xie, Q.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 13 (2018-04-27), S. T04007
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    On the determination of the substrate effective doping concentration of irradiated HV-CMOS sensors using an edge-TCT technique based on the Two-Photon-Absorption process
    Montero, Ruben ; R. Palomo Pinto ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-01-16), S. C01038
    Online unknown
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    A low-power 12.5 Gbps serial link transmitter ASIC for particle detectors in 65 nm CMOS
    Zuo, Z. ; Tang, Yuxuan ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-02-17), S. C02063
    Online unknown
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Design of a 12-bit 2 MS/s 12 mW pipelined SAR ADC in CMOS 0.18 μm technology for CZT-based imaging system
    Hu, Yann ; Wei, Xiaomin ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 11 (2016-12-07), S. P12006
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Design of a 10-bit segmented current-steering digital-to-analog converter in CMOS 65 nm technology for the bias of new generation readout chips in high radiation environment
    G. De Robertis ; Pacher, Luca ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 11 (2016-01-15), S. C01027
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A 12-bit 60-MS/s 36-mW SHA-less opamp-sharing pipeline ADC in 130 nm CMOS
    Vosooghi, Bozorgmehr ; Liu, T. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 11 (2016-01-12), S. C01010
    Online unknown
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Fast signal transfer in a large-area X-ray CMOS image sensor
    Jae, M ; Lee, Dae-Hee ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 9 (2014-08-28), S. P08011
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Fully depleted, thick, monolithic CMOS pixels with high quantum efficiency
    Clarke, Andrew ; Johnston, N. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 10 (2015-04-30), S. T04005
    Online unknown
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Depleted Monolithic Active Pixel Sensors (DMAPS) implemented in LF-150 nm CMOS technology
    Kishishita, T. ; Krüger, Hans ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 10 (2015-03-26), S. C03047
    Online unknown
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Monolithic arrays of SDDs and low noise CMOS readout for X-ray spectroscopy measurements in nuclear physics experiments
    Butt, A. D. ; Quaglia, R. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 10 (2015-03-03), S. C03001
    Online unknown
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