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  1. Yan, Yingwen ; Deng, Yuanhao ; et al.
    In: Aircraft Engineering and Aerospace Technology, Jg. 88 (2016-07-04), S. 498-507
    Online unknown
  2. Sidelnikov, Yuri ; Konstantin Nikolaevitch Koshelev ; et al.
    In: International Conference on Extreme Ultraviolet Lithography 2018, 2018-10-03
    Online unknown
  3. Schadt, Martin
    In: Molecular Crystals and Liquid Crystals, Jg. 647 (2017-04-13), S. 253-268
    Online unknown
  4. Hayashi, Hideyuki ; Watanabe, Yukio ; et al.
    In: Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography X, 2019-03-26
    Online unknown
  5. Yanagida, Tatsuya ; Takashi, Saito ; et al.
    In: International Conference on Extreme Ultraviolet Lithography 2018, 2018-10-03
    Online unknown
  6. Cheng, Yuehua ; Ruotong, Qu ; et al.
    In: 2018 Chinese Control And Decision Conference (CCDC), 2018-06-01
    Online unknown
  7. Kawasuji, Y. ; Shiraishi, Y. ; et al.
    2018
    Online unknown
  8. Itani, Toshiro ; Nickol, Jeremy B. ; et al.
    In: International Conference on Extreme Ultraviolet Lithography 2017, 2017-10-16
    Online unknown
  9. Vaschenko, Georgiy O. ; Purvis, Michael ; et al.
    In: Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography VIII, 2017-05-05
    Online unknown
  10. Abe, T. ; Nagai, S. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2017-01-13
    Online unknown
  11. Ueno, Yoshifumi ; Hori, Tsukasa ; et al.
    In: International Conference on Extreme Ultraviolet Lithography 2017, 2017-10-16
    Online unknown
  12. Ito, Keisuke ; Higashiguchi, Takeshi ; et al.
    In: Microscopy and Microanalysis, Jg. 24 (2018-08-01), S. 214-215
    Online unknown
  13. Heinze, Johannes ; Behrendt, Thomas ; et al.
    2003
    Online unknown
  14. Okamoto, Takeshi ; Hori, Tsukasa ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2017-03-24
    Online unknown
  15. Chong Meng Samson See ; Li, Xiumei ; et al.
    In: Signal Processing, Jg. 91 (2011-06-01), S. 1432-1443
    Online unknown
  16. Sunahara, Atushi ; Nishikawa, Takeshi ; et al.
    In: Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography VII, 2016-03-18
    Online unknown
  17. Hassanein, Ahmed ; Sizyuk, Tatyana
    In: SPIE Proceedings, 2015-04-06
    Online unknown
  18. Rollinger, Bob ; Abreau, F. ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2015-03-19
    Online unknown
  19. Yamazaki, Taku ; Kodama, Takeshi ; et al.
    In: Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography VII, 2016-03-18
    Online unknown
  20. Shlyaptsev, Vyacheslav N. ; Reagan, Brendan A. ; et al.
    In: Extreme Ultraviolet (EUV) Lithography VII, 2016-03-18
    Online unknown
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -