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  1. Vaishali ; Ashwani Kumar Yadav ; et al.
    In: Materials Today: Proceedings, Jg. 10 (2019), S. 136-141
    Online unknown
  2. Frank Sill Torres ; Hanif, Muhammad ; et al.
    In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, Jg. 428 (2018-08-01), S. 30-37
    Online unknown
  3. Rosseto, Allan ; Bampi, Sergio ; et al.
    In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, Jg. 18 (2018-03-01), S. 27-36
    Online unknown
  4. Lewerenz, Mila ; Luisier, Mathieu ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-06-01), S. 3112-3118
    Online unknown
  5. Ramezani, Zeinab ; Orouji, Ali A.
    In: International Journal of Electronics, 2017-07-27, S. 1-14
    Online unknown
  6. Sah, Nagendra ; Mittal, Eesh
    In: 2017 International Conference on Energy, Communication, Data Analytics and Soft Computing (ICECDS), 2017-08-01
    Online unknown
  7. Mayr, Christian ; Walter, Dennis ; et al.
    In: 2017 75th Annual Device Research Conference (DRC), 2017-06-01
    Online unknown
  8. Huang, Ruixuan ; Ji, Shi-liang ; et al.
    In: 2017 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2017-03-01
    Online unknown
  9. Dae Hyun Kim ; Milor, Linda ; et al.
    In: 2016 Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS), 2016-11-01
    Online unknown
  10. Yang, Zhiming ; Yue, Guan ; et al.
    In: Journal of Circuits, Systems and Computers, Jg. 26 (2017-04-17), S. 1750177-1750177
    Online unknown
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sm 576 - 768
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