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  1. Cheng, D. ; Fung, D. ; et al.
    In: DIFFUSION AND DEFECT DATA PART B SOLID STATE PHENOMENA, Jg. 181/182 (2012), S. 233-236
    Online Konferenz
  2. Crossland, W. A. ; Wilkinson, T. D. ; et al.
    In: MOLECULAR CRYSTALS AND LIQUID CRYSTALS, Jg. 375 (2002), S. 1-14
    Online Konferenz
  3. Wilkinson, T. D. ; Crossland, W. A. ; et al.
    In: FERROELECTRICS, Jg. S 276-278 (2002), S. 227/[799]
    Konferenz
  4. Uche, C. ; Fracasso, B. ; et al.
    In: FERROELECTRICS, Jg. S 276-278 (2002), S. 219/[791]
    Konferenz
  5. Zhang, Z. ; Jeziorska-Chapman, A.M. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERS, Jg. 7618 (2010), S. 7618 15
    Konferenz
  6. Ghannam, R. ; Collings, N. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6654 (2007), S. 6654 0R
    Konferenz
  7. Inoue, T. ; Tanaka, H. ; et al.
    In: PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING, Jg. 6487 (2007), S. 64870Y
    Konferenz
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
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