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    A novel CLB architecture to detect and correct SEU in LUTs of SRAM-based FPGAs
    Sundar, E.S. ; Chandrasekhar, V. ; et al.
    In: Proceedings. 2004 IEEE International Conference on Field- Programmable Technology (IEEE Cat. No.04EX921), Field-Programmable Technology, 2004. Proceedings. 2004 IEEE International Conference on, Field-programmable technology, 2004, S. 121-128
    Konferenz
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    Test Generation for Single and Multiple Stuck-at Faults of a Combinational Circuit Designed by Covering Shared ROBDD with CLBs
    Matrosova, A. ; Loukovnikova, E. ; et al.
    In: 22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT 2007), 2007-09-01, S. 206
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    A Testing Approach for Xilinx FPGA's CLB
    Ming, Tang ; Guo-ping, Zhang ; et al.
    In: 2006 8th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology Proceedings, 2006, S. 2158
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Built-in Self-Test Design for Fault Detection and Fault Diagnosis in SRAM-Based FPGA
    Hsu, C. L. ; Chen, T. H.
    In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 58 (2009-07-01), Heft 7, S. 2300-2315
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Full coverage manufacturing testing for SRAM-based FPGA
    Liao, Y. B. ; Li, P. ; et al.
    In: Proceedings of the 2009 12th International Symposium on Integrated Circuits, 2009-12-01, S. 478
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Testing and diagnosis techniques for LUT-based FPGA's
    Lu, Shyue-Kung ; Wu, Hung-Chin ; et al.
    In: 13th Asian Test Symposium, 2004, S. 414-419
    Konferenz
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  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Testing carry logic modules of SRAM-based FPGAs
    Sun, Xiaoling ; Xu, Jian ; et al.
    In: Proceedings 2001 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing, 2001, S. 91-98
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Testing Xilinx XC4000 configurable logic blocks with carry logic-modules
    Sun, Xiaoling ; Xu, Jian ; et al.
    In: Proceedings 2001 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2001, S. 221-229
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Testing approach within FPGA-based fault tolerant systems
    Doumar, A. ; Ito, H.
    In: Proceedings of the Ninth Asian Test Symposium, 2000, S. 411-416
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    RAM-based FPGAs: a test approach for the configurable logic
    Renovell, M. ; Portal, J.M. ; et al.
    In: Proceedings Design, Automation and Test in Europe, 1998, S. 82-88
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    A XOR-tree based technique for constant testability of configurable FPGAs
    Huang, W.K. ; Zhang, M.Y. ; et al.
    In: Proceedings Sixth Asian Test Symposium (ATS'97), 1997, S. 248-253
    Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Built-In Self-Test of configurable logic blocks in Virtex-5 FPGAs
    Dutton, Bradley F. ; Stroud, Charles E.
    In: 2009 41st Southeastern Symposium on System Theory, 2009-03-01, S. 230
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    I/sub DDQ/ testing of bridging faults in logic resources of reconfigurable field programmable gate arrays
    Zhao, Lan ; Walker, D.M.H. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Computers, Jg. 47 (1998-10-01), Heft 10, S. 1136-1152
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    A BIST approach for testing FPGAs using JBITS
    Niamat, M.Y. ; Hejeebu, S.S. ; et al.
    In: 13th Annual IEEE Symposium on Field-Programmable Custom Computing Machines (FCCM'05), 2005, S. 267-268
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A self-checking cell logic block for fault tolerant FPGAs
    Pontarelli, S. ; Cardarilli, G.C. ; et al.
    In: 2002 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Jg. 4 (2002), S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A BIST scheme for testing a multiple FPGA system
    Niamat, M.Y. ; Jogu, R.R.
    In: The 2002 45th Midwest Symposium on Circuits and Systems,, Jg. 2 (2002), S. 1
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A BIST scheme for FPGA interconnect delay faults
    Wang, Chun-Chieh ; Liou, Jing-Jia ; et al.
    In: 23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05), 2005, S. 201-206
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Configuration self-test in FPGA-based reconfigurable systems
    Quddus, W. ; Jas, A. ; et al.
    In: 1999 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Jg. 1 (1999), S. 97-100
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Testing the logic cells and interconnect resources for FPGAs
    Doumar, A. ; Ito, H.
    In: Proceedings Eighth Asian Test Symposium (ATS'99), 1999, S. 369-374
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Detection of bridging faults in logic resources of configurable FPGAs using I/sub DDQ/
    Zhao, L. ; Walker, D.M.H. ; et al.
    In: Proceedings International Test Conference 1998 (IEEE Cat. No.98CH36270), 1998, S. 1037-1046
    Konferenz
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