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    Low-Voltage-Signaling CMOS Receiver with Dynamic Threshold Control
    Asano, Tanemasa ; Arima, Yutaka ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 44 (2005-04-01), S. 2088-2088
    Online unknown
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    Advantages of Ultra-Thin SIMOX/CMOS based on Well-Established 0.8 µm Mass-Production Technologies for Low Power 1 V Phase Locked Loop Circuits
    Kawai, Shin'ichi ; Suzuki, Hirokazu ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 35 (1996-02-01), S. 988-988
    Online unknown
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    A 'Self-Body-Biased' SOI MOSFET: A Novel Body-Voltage-Controlled SOI MOSFET for Low Voltage Applications
    Funakoshi, Shichio ; Terauchi, Mamoru
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 42 (2003-04-30), S. 2014-2019
    Online unknown
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    Enhanced p-Channel Metal–Oxide–Semiconductor Field-Effect Transistor Charge Pump for Low-Voltage Applications
    Wu, Hai-Ming ; Hsu, Chien-pin ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 49 (2010-04-01), S. 04DE16
    Online unknown
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    Experimental Analysis of Within-Die Process Variation in 65 and 180 nm Complementary Metal–Oxide–Semiconductor Technology Including Its Distance Dependences
    Imafuku, Wataru ; Ansari, Tania ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 51 (2012-04-01), S. 04DE03
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    n-Channel Metal–Oxide–Semiconductor Field-Effect Transistor Modeling in Forward Body Bias Condition for Low Voltage Complementary Metal–Oxide–Semiconductor Circuits Design
    Matsuzawa, Akira ; Aoki, Hitoshi
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 51 (2012-03-21), S. 044301-44301
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    A 1.2 V Power Supply, 2.43 Times Power Efficient, Adaptive Charge Pump Circuit with Optimized Threshold Voltage at Each Pump Stage for Ferroelectric-NAND Flash Memories
    Noda, Shinji ; Hatanaka, Teruyoshi ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 49 (2010-04-01), S. 04DD10
    Online unknown
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  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Metal–Oxide–Nitride–Oxide–Semiconductor Memory Device with One-Side Halo Implantation to Enable Low-Voltage Operation Using Hot-Carrier Injection
    Koyama, Kazuhide ; Tomiye, Hideto ; et al.
    In: Japanese Journal of Applied Physics, Jg. 44 (2005-09-01), S. 6441-6441
    Online unknown
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