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    Estimating the Step-Change Time of the Location Parameter in Multistage Processes Using MLE
    Seyed Taghi Akhavan Niaki ; Davoodi, Mehdi
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 28 (2011-10-25), S. 843-855
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    A Self-Starting CUSUM Chart Combined with a Maximum Likelihood Estimator for the Time of a Detected Shift in the Process Mean ; Self-starting CUSUM chart with change-point MLE for shits in location
    Tercero-Gómez, Víctor G. ; Cordero-Franco, Alvaro ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International ; volume 30, issue 4, page 591-599 ; ISSN 0748-8017, 2013
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Estimating the Step‐Change Time of the Location Parameter in Multistage Processes Using MLE
    Davoodi, Mehdi ; Niaki, Seyed Taghi Akhavan
    In: Quality and Reliability Engineering International ; volume 28, issue 8, page 843-855 ; ISSN 0748-8017 1099-1638, 2011
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A new estimation approach based on phi‐divergence measures for one‐shot device accelerated life testing
    Castilla, Elena
    In: Quality and Reliability Engineering International ; ISSN 0748-8017 1099-1638, 2024
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    A random‐effect gamma process model with random initial degradation for accelerated destructive degradation testing data
    Ling, Man Ho ; Bae, Suk Joo ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International ; volume 40, issue 1, page 374-387 ; ISSN 0748-8017 1099-1638, 2023
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    E‐Bayesian estimation for the parameters and hazard function of Gompertz distribution based on progressively type‐II right censoring with application
    Mohie El‐Din, Marwa M. ; Sharawy, Ali ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International ; volume 39, issue 4, page 1299-1317 ; ISSN 0748-8017 1099-1638, 2023
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Particle count estimation in dilution series experiments
    Duan, Yajie ; Lin, Chun‐Pang ; et al.
    In: Naval Research Logistics (NRL) ; volume 70, issue 5, page 472-479 ; ISSN 0894-069X 1520-6750, 2023
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Robust inference for one‐shot device testing data under exponential lifetime model with multiple stresses
    Pardo, Leandro ; Castilla, Elena ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 36 (2020-05-20), S. 1916-1930
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Bayesian inference for modified Weibull distribution under simple step‐stress model based on type‐I censoring
    Ramzan, Qasim ; Amin, Muhammad ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International ; volume 38, issue 2, page 757-779 ; ISSN 0748-8017 1099-1638, 2021
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Reliability analysis for q‐Weibull distribution with multiply Type‐I censored data
    Jia, Xiang ; National Natural Science Foundation of China
    In: Quality and Reliability Engineering International ; volume 37, issue 6, page 2790-2817 ; ISSN 0748-8017 1099-1638, 2021
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Statistical inference on accelerated life testing with dependent competing failure model under progressively type‐II censored data based on copula theory
    Wang, Ying ; Yan, Zaizai ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International ; volume 37, issue 4, page 1396-1408 ; ISSN 0748-8017 1099-1638, 2020
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    The Weibull log‐logistic mixture distributions: Model, theory and application to lifetime data
    Rachid, Azzaz ; Naima, Boudrissa
    In: Quality and Reliability Engineering International ; volume 37, issue 4, page 1599-1627 ; ISSN 0748-8017 1099-1638, 2020
    academicJournal
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    Robust inference for one‐shot device testing data under exponential lifetime model with multiple stresses
    Balakrishnan, Narayanaswamy ; Castilla, Elena ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International ; volume 36, issue 6, page 1916-1930 ; ISSN 0748-8017 1099-1638, 2020
    academicJournal
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    GLM profile monitoring using robust estimators
    Moheghi, Hamid Reza ; Noorossana, Rassoul ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International ; volume 37, issue 2, page 664-680 ; ISSN 0748-8017 1099-1638, 2020
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Statistical inference for coherent systems with Weibull distributed component lifetimes under complete and incomplete information
    Jablonka, A. ; Cramer, E. ; et al.
    In: Applied Stochastic Models in Business and Industry ; volume 35, issue 4, page 1011-1027 ; ISSN 1524-1904 1526-4025, 2019
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A novel pseudo‐maximum likelihood estimation method for accelerated degradation tests under Wiener process
    Wang, Han ; Zhao, Yu ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International ; volume 35, issue 1, page 304-317 ; ISSN 0748-8017 1099-1638, 2018
    academicJournal
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    Reliability Analysis of the CNC System Based on Field Failure Data in Operating Environments
    You, Dazhang ; Pham, Hoang
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 32 (2015-12-18), S. 1955-1963
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Robust Estimation for Weibull Distribution in Partially Accelerated Life Tests with Early Failures
    Cheng, Yung-Fu ; Sheu, Shey-Huei
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 32 (2015-11-25), S. 2207-2216
    Online unknown
    Zugriff:
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    A Self-Starting CUSUM Chart Combined with a Maximum Likelihood Estimator for the Time of a Detected Shift in the Process Mean
    Pérez-Blanco, Angel ; Hernández-Luna, Alberto ; et al.
    In: Quality and Reliability Engineering International, Jg. 30 (2013-05-24), S. 591-599
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Parametric inference for component distributions from lifetimes of systems with dependent components
    Hon Keung Tony Ng ; Balakrishnan, Narayanaswamy ; et al.
    In: Naval Research Logistics (NRL), Jg. 59 (2012-08-17), S. 487-496
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Wie komme ich dran?
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