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    Voltage Transfer Characteristics of CMOS-Like Inverters for Ambipolar SnO Thin-Film Transistors
    Nomura, Kenji ; Zhang, Yong ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 43 (2022), S. 52-55
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    A Novel RF Power Detector Based on Positive and Negative Thermistors Using Standard CMOS Technology
    Li, Jian-Hua ; Liao, Xiaoping
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-12-01), S. 1849-1852
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    Wideband Bandpass Filter for 5G Millimeter- Wave Application in 45-nm CMOS Silicon-on-Insulator
    Rebeiz, Gabriel M. ; Gao, Li
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-08-01), S. 1244-1247
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    A Low Impedance CMOS-MEMS Capacitive Resonator Based on Metal-Insulator-Metal (MIM) Capacitor Structure
    Li, Sheng-Shian ; Chen, Hung-Yu ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-07-01), S. 1045-1048
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    Highly Sensitive DNA Detection Beyond the Debye Screening Length Using CMOS Field Effect Transistors
    Chen, Yi-Wei ; Michael S.-C. Lu
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-08-01), S. 1220-1223
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    All-Silicon Microdisplay Using Efficient Hot-Carrier Electroluminescence in Standard 0.18μm CMOS Technology
    Luo, Qian ; Xu, Kaikai ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-04-01), S. 541-544
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    Non-Volatile Wideband Frequency Tuning of a Ring-Oscillator by Charge Trapping in High-k Gate Dielectric in 22nm CMOS
    Iyer, Subramanian S. ; Nouri, Sepideh
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021), S. 110-113
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    Demonstration of CMOS Integration With High-Voltage Double-Implanted MOS in 4H-SiC
    Huang, Chih-Fang ; Hung, Jia-Ching ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021), S. 78-81
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    High Responsivity Ge Phototransistor in Commercial CMOS Si-Photonics Platform for Monolithic Optoelectronic Receivers
    Cressler, John D. ; Frounchi, Milad ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-02-01), S. 196-199
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    Using Schottky Barrier Diode to Improve Latch-Up Immunity for CMOS ICs Operating With Negative Voltage Sources
    Chang, Rong-Kun ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-03-01), S. 395-397
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    Fully-CMOS Multi-Level Embedded Non-Volatile Memory Devices With Reliable Long-Term Retention for Efficient Storage of Neural Network Weights
    Brooks, David ; Donato, Marco ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 40 (2019-09-01), S. 1403-1406
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    Low-Temperature Hybrid CMOS Circuits Based on Chalcogenides and Organic TFTs
    MEJIA, Israel ; SALAS-VILLASENOR, Ana L ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 32 (2011), Heft 8, S. 1086-1088
    Online academicJournal
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    CMOS-Compatible Vertical-Silicon-Nanowire Gate-All-Around p-Type Tunneling FETs With < 50-mV/decade Subthreshold Swing
    GANDHI, Ramanathan ; ZHIXIAN, CHEN ; et al.
    In: IEEE electron device letters, Jg. 32 (2011), Heft 11, S. 1504-1506
    Online academicJournal
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    A Novel High Photon Detection Efficiency Silicon Photomultiplier With Shallow Junction in 0.35 $\mu$ m CMOS
    Xie, Qingguo ; Schmidt, Andrei ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 40 (2019-09-01), S. 1471-1474
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    Inductive Micro Tri-Axial Tactile Sensor Using a CMOS Chip With a Coil Array
    Fang, Weileun ; Yeh, Sheng-Kai
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 40 (2019-04-01), S. 620-623
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    Long Exposure Time Noise in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors
    Han, Liqiang ; Xu, Jiangtao
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-07-01), S. 979-982
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    On-Chip High-Voltage Charge Pump With MEMS Post-Processed Standard 5-V CMOS on SOI for Electroosmotic Flow Micropumps
    Ohba, Takayuki ; Ichiki, Takanori ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-06-01), S. 851-854
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    A Low-Loss Bandpass Filter using Edge-Coupled Resonator With Capacitive Feeding in (Bi)-CMOS Technology
    Zhu, Xi ; Zhu, He ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 39 (2018-06-01), S. 787-790
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    AC Device Variability in High- <tex-math notation='LaTeX'>$\kappa$ </tex-math> Metal-Gate CMOS Technology
    Narayanan, Vijay ; Lee, Dongsoo ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 40 (2019), S. 13-16
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    Assessment of Germanane Field-Effect Transistors for CMOS Technology
    Yoon, Youngki ; AlMutairi, AbdulAziz ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 38 (2017-12-01), S. 1743-1746
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