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    Developments of two 4 × 10 Gb/s VCSEL array drivers in 65 nm CMOS for HEP experiments
    Ye, Jianqiao ; Moreira, Paulo ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-02-21), S. C02065
    Online unknown
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    Fast signal transfer in a large-area X-ray CMOS image sensor
    Jae, M ; Lee, Dae-Hee ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 9 (2014-08-28), S. P08011
    Online unknown
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    Depleted Monolithic Active Pixel Sensors (DMAPS) implemented in LF-150 nm CMOS technology
    Kishishita, T. ; Krüger, Hans ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 10 (2015-03-26), S. C03047
    Online unknown
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    A 12 GHz low-jitter LC-VCO PLL in 130 nm CMOS
    Liu, T. ; Feng, Yulang ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 10 (2015-03-09), S. C03013
    Online unknown
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    A 54-mW 8-Gbit/s VCSEL driver in a 65-nm CMOS technology
    Gong, D. ; Deng, B. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 9 (2014-01-14), S. C01021
    Online unknown
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    A low-power CMOS ASIC for X-ray Silicon Drift Detectors low-noise pulse processing
    Vacchi, A. ; Ahangarianabhari, M. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 9 (2014-03-21), S. C03036
    Online unknown
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    Performance of capacitively coupled active pixel sensors in 180 nm HV-CMOS technology after irradiation to HL-LHC fluences
    Feigl, S
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 9 (2014-03-14), S. C03020
    Online unknown
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    Radiation-hardened-by-design clocking circuits in 0.13-μm CMOS technology
    Ye, Jianqiao ; You, Y. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 9 (2014-01-16), S. C01029
    Online unknown
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    A radiation tolerant 5 Gb/s Laser Driver in 130 nm CMOS technology
    Gui, Ping ; Mazza, G. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 7 (2012-01-11), S. C01052
    Online unknown
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    TOT01, a time-over-threshold based readout chip in 180nm CMOS technology for silicon strip detectors
    Szczygiel, Robert ; Gryboś, P. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 6 (2011-01-11), S. C01026
    Online unknown
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Development of a 55 μmpitch 8 inch CMOS image sensor for the high resolution NDT application
    Dong Ha Kim ; Cho, Gye-Chun ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 11 (2016-11-24), S. P11016
    Online unknown
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Noise characterisation of MOS transistors in a 0.35 μm CMOS technology of geometries dedicated to front-end circuits for strip detectors
    Dabrowski, Wladyslaw ; Fiutowski, Tomasz
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 1 (2006-11-07), S. P11001
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    14C autoradiography with a novel wafer scale CMOS Active Pixel Sensor
    Anaxagoras, Thalis ; Allinson, Nigel M. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 8 (2013-01-07), S. C01011
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Depleted Monolithic Pixels (DMAPS) in a 150 nm technology: lab and beam results
    Hügging, Fabian ; Krüger, Hans ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-01-23), S. C01062
    Online unknown
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Status of HVCMOS developments for ATLAS
    Leys, R. ; Zhang, H. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, 2017
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    Volltext
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Characterization of a Depleted Monolithic Active Pixel Sensor (DMAPS) prototype
    Kishishita, T. ; Wermes, Norbert ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 10 (2015-03-27), S. C03049
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Front-end electronics for Micro Pattern Gas Detectors with integrated input protection against discharges
    Dąbrowski, W. ; Fiutowski, Tomasz ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 11 (2016-01-18), S. C01036
    Online unknown
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Radiation tolerance of the readout chip for the Phase I upgrade of the CMS pixel detector
    Rohe, Tilman ; Starodumov, A. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 11 (2016-01-07), S. C01003
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    A monolithic pixel sensor (TRAPPISTe-2) for particle physics instrumentation in OKI 0.2μmSOI technology
    Cortina, E. ; L. Soung Yee ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 7 (2012-12-20), S. C12028
    Online unknown
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    First results on the ATLAS HL-LHC H35DEMO prototype
    Wonsak, S. ; Casanova, R. ; et al.
    In: Journal of Instrumentation, Jg. 12 (2017-05-02), S. C05001
    Online unknown
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