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    XPS and Auger LMM analysis of ZnO/Si and ZnO/SiO2 interfaces
    Raven, M. S.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 1 (1979-02-01), S. 20-25
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
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    Surface composition changes in GaN induced by argon ion bombardment
    Kovač, J. ; Zalar, A.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 34 (2002), S. 253-256
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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    Quantitative AES depth profiling of a Ge/Si multilayer structure
    Kesler, Valeri ; Hofmann, Siegfried
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 33 (2002), S. 461-471
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Application of AES line shape analysis for the identification of interface species during the metallization of diamond particles
    Zheng, Bin ; Yao, Wenqing ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 28 (1999-08-01), S. 254-257
    Online unknown
    Zugriff:
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Target factor and neural network analyses applied to titanium nitride composition recognition by AES
    Card, Jill ; Laurie A. Le Tarte ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 23 (1995-07-01), S. 495-505
    Online unknown
    Zugriff:
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  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    An Auger sputter profiling study of nitrogen and oxygen ion implantations in two titanium alloys
    Pope, L. E. ; Barton, B. D. ; et al.
    In: Surface and Interface Analysis, Jg. 15 (1990-02-01), S. 100-106
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
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