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    The RF-LLK optoelectronic active-passive system for forming brightness-range images of the background-and-target situation
    Kaplan, V. G. ; Kaderova, G. N. ; et al.
    In: Journal of Optical Technology, Jg. 74 (2007), S. 20-20
    Online unknown
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    Thickness dependence of domain size in 2D ferroelectric CuInP2S6 nanoflakes
    Chen, Liufang ; Wang, Hanwen ; et al.
    In: AIP Advances, Jg. 9 (2019-11-01), S. 115211-115211
    Online unknown
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    Micro-Raman spectroscopic analysis of TiO2 phases on the root surfaces of commercial dental implants
    Eliades, George ; Silikas, Nick ; et al.
    In: Dental Materials, Jg. 30 (2014-08-01), S. 861-867
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Ferroelectric domain of epitaxial AgNbO3 thin film
    Kwang Jo Lee ; Seo, Jeongdae ; et al.
    In: Journal of Crystal Growth, Jg. 437 (2016-03-01), S. 10-13
    Online unknown
    Zugriff:
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  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Superior power handling in fiber optic cables for multi-kW lasers
    Blomster, Ola ; Campbell, Stuart ; et al.
    In: SPIE Proceedings, 2014-02-20
    Online unknown
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    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Fatigue-crack-growth threshold data for low-alloy steels
    Hopkins, P. ; Batte, A. D. ; et al.
    In: Metals Technology, Jg. 7 (1980), S. 256-258
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
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sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
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