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  1. McGill, Lisa ; Seddio, Stephen M. ; et al.
    In: International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2019-12-01
    Online unknown
  2. Henstra, Alexander ; Gerard Nicolaas Anne van Veen ; et al.
    2012
    Online unknown
  3. Morrissey, F ; Darus, M ; et al.
    In: Microscopy and Microanalysis, Jg. 15 (2009-07-01), S. 186-187
    Online unknown
  4. Dingle, Trevor ; Chmelik, J ; et al.
    In: Microscopy and Microanalysis, Jg. 15 (2009-07-01), S. 168-169
    Online unknown
  5. Young, Richard J. ; Dingle, Trevor ; et al.
    In: Microscopy Today, Jg. 16 (2008-07-01), S. 24-29
    Online unknown
  6. Greif, Dominik ; Anselmetti, Dario ; et al.
    In: Microscopy Today, Jg. 19 (2011-08-31), S. 22-25
    Online unknown
  7. Kempen, Paul J. ; Sinclair, Robert ; et al.
    In: Microscopy and Microanalysis, Jg. 19 (2013-08-01), S. 1554-1555
    Online unknown
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -