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    A 650 kV/μs Common-Mode Resilient CMOS Galvanically Isolated Communication System
    Kitchen, Jennifer ; Javid, Mahdi ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 69 (2022-02-01), S. 587-598
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    CMOS ISFETs With 3D-Truncated Sensing Structure Resistant to Scaling Attenuation and Trapped Charge-Induced Offset
    Teng, Nan-Yuan ; Lin, Chih-Ting
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-12-15), S. 27282-27289
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    A 28-GHz CMOS Power Amplifier Linearized by Dynamic Conductance Control and Body Carrier Injection
    Lee, Wonho ; Yoo, Jongho ; et al.
    In: IEEE Microwave and Wireless Components Letters, Jg. 31 (2021-09-01), S. 1071-1074
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    CMOS Detector Using Customized Bolt-Wrench Capacitor on Backend Oxide Layer
    Hyo Jin Lee ; Lee, Ga-Eun ; et al.
    In: IEEE Microwave and Wireless Components Letters, Jg. 31 (2021-08-01), S. 1012-1015
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    Power-Optimized Digitally Controlled Oscillator in 28-nm CMOS for Low-Power FMCW Radars
    Enz, Christian ; Erwan Le Roux ; et al.
    In: IEEE Microwave and Wireless Components Letters, Jg. 31 (2021-08-01), S. 965-968
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    Sensing Characteristic Enhancement of CMOS-Based ISFETs With Three-Dimensional Extended- Gate Architecture
    Wang, Rui-Xing ; Lin, Chih-Ting ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 21 (2021-04-01), S. 8831-8838
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    3-D CMOS Chip Stacking for Security ICs Featuring Backside Buried Metal Power Delivery Networks With Distributed Capacitance
    Miura, Noriyuki ; Okidono, Takaaki ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 2077-2082
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    Analysis of Charge Transfer Potential Barrier in Pinned Photodiode of CMOS Image Sensors
    Sarkar, Mukul ; Khan, Uzma
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-06-01), S. 2770-2777
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    Single-Chip CMOS Reconfigurable Dual-Band Tri-Mode High-Efficiency RF Amplifier Design
    Liu, Hao-Yu ; Cheng, Kwok-Keung M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Jg. 68 (2021-03-01), S. 868-872
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    Design of an Extreme Low Cutoff Frequency Highpass Frontend for CMOS ISFET via Direct Tunneling Principle
    Hu, Yuanqi ; Liang, Jing
    In: IEEE Transactions on Biomedical Circuits and Systems, Jg. 15 (2021-04-01), S. 210-220
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    Improved Air Spacer for Highly Scaled CMOS Technology
    Yamashita, Tenko ; Greene, Andrew M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-12-01), S. 5355-5361
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    Analysis and mathematical modelling of charge injection effect for efficient performance of CMOS imagers and CDS circuit
    Tiwari, Ashish ; Talwekar, R. H.
    In: IET Circuits, Devices & Systems, Jg. 14 (2020-10-01), S. 1038-1048
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    Single-Event Effects Characterization of LC-VCO PLLs in a 28-nm CMOS Technology
    Gu, Cheng ; Patel, Maulik ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-09-01), S. 2042-2050
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    A 0.2-V Three-Winding Transformer-Based DCO in 16-nm FinFET CMOS
    Chang, Chih-Hsien ; Liao, Chia-Chun ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Jg. 67 (2020-12-01), S. 2878-2882
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    High-Power Generation for mm-Wave 5G Power Amplifiers in Deep Submicrometer Planar and FinFET Bulk CMOS
    Chakrabarti, Anandaroop ; Jaussi, James E. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Jg. 68 (2020-06-01), S. 2041-2056
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    Parallel 1024-ch Cyclic Voltammetry on Monolithic CMOS Electrochemical Detector Array
    Mulberry, Geoffrey ; Kim, Brian N. ; et al.
    In: IEEE Sensors Journal, Jg. 20 (2020-04-15), S. 4395-4402
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    A Novel Empirical Model for CMOS Schottky Diodes up to 67 GHz
    Zhang, Wenyuan ; Wang, Yan ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-11-01), S. 4660-4665
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    Fully Integrated High Voltage Pulse Driver Using Switched-Capacitor Voltage Multiplier and Synchronous Charge Compensation in 65-nm CMOS
    Wu, Jiangchao ; Law, Man-Kay ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, Jg. 66 (2019-10-01), S. 1768-1772
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    <scp>A</scp> low‐phase‐noise and low‐power CMOS colpitts VCO using G m boosting and capacitance switching techniques
    Pakasiri, Chatrpol ; Wang, Sen ; et al.
    In: Microwave and Optical Technology Letters, Jg. 63 (2020-07-30), S. 46-50
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    Single-Event Upset Responses of Metal–Oxide–Metal Capacitors and Diodes Used in Bulk 65-nm CMOS Analog Circuits
    Andeen, Timothy ; Parsons, John ; et al.
    In: IEEE Transactions on Nuclear Science, Jg. 67 (2020-04-01), S. 698-707
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