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    Silicon Wafer Gettering Design for Advanced CMOS Image Sensors Using Hydrocarbon Molecular Ion Implantation: A Review
    Okuda, Hidehiko ; Kobayashi, Koji ; et al.
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 10 (2022), S. 720-727
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    Power Performance Analysis of Digital Standard Cells for 28 nm Bulk CMOS at Cryogenic Temperature Using BSIM Models
    Chakraborty, Wriddhi ; Cao, Yu ; et al.
    In: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, Jg. 7 (2021-12-01), S. 193-200
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    Ultra-Low-Voltage UTBB-SOI-Based, Pseudo-Static Storage Circuits for Cryogenic CMOS Applications
    S. S. Teja Nibhanupudi ; Siddhartha Raman Sundara Raman ; et al.
    In: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, Jg. 7 (2021-12-01), S. 201-208
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    Characterization and Modeling of 22 nm FDSOI Cryogenic RF CMOS
    Gomez, Jorge ; Fay, Patrick ; et al.
    In: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits, Jg. 7 (2021-12-01), S. 184-192
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    Performance Projection of 2-D Material-Based CMOS Inverters for Sub-10-nm Channel Length
    Rawat, Brajesh ; Rawat, Akhilesh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-07-01), S. 3622-3629
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    TCAD-Based Assessment of the Lateral GAA Nanosheet Transistor for Future CMOS
    Fossum, Jerry G. ; Ya Chi Huang ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), S. 6586-6591
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    Graphene Photo Memtransistor Based on CMOS Flash Memory Technology with Neuromorphic Applications
    Levy, Uriel ; Frydendahl, Christian ; et al.
    In: ACS Photonics, Jg. 8 (2021-07-14), S. 2659-2665
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    All-Silicon Microdisplay Using Efficient Hot-Carrier Electroluminescence in Standard 0.18μm CMOS Technology
    Luo, Qian ; Xu, Kaikai ; et al.
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021-04-01), S. 541-544
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    Demonstration of CMOS-Compatible Multi-Level Graphene Interconnects With Metal Vias
    Banerjee, Kaustav ; Agashiwala, Kunjesh ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 2083-2091
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    3-D CMOS Chip Stacking for Security ICs Featuring Backside Buried Metal Power Delivery Networks With Distributed Capacitance
    Miura, Noriyuki ; Okidono, Takaaki ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-04-01), S. 2077-2082
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    Stand-by Power Reduction Using Experimentally Demonstrated Nano-Electromechanical Switch in CMOS Technologies
    Goel, Mayank ; Saha, Sumit ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-02-01), S. 746-752
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    Nanowire Array-based MOSFET for Future CMOS Technology to Attain the Ultimate Scaling Limit
    Bhol, Krutideepa ; Nanda, Umakanta
    In: Silicon, Jg. 14 (2021-01-07), S. 1169-1177
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    Study on CDM ESD Robustness Among On-Chip Decoupling Capacitors in CMOS Integrated Circuits
    Huang, Yi-Chun ; Ker, Ming-Dou
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 881-890
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    Non-Volatile Wideband Frequency Tuning of a Ring-Oscillator by Charge Trapping in High-k Gate Dielectric in 22nm CMOS
    Iyer, Subramanian S. ; Nouri, Sepideh
    In: IEEE Electron Device Letters, Jg. 42 (2021), S. 110-113
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    A CMOS Photodetector for Direct Color Imaging
    Audet, Yves ; Bendali, Abdelhalim ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-03-01), S. 1107-1114
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    Improved Air Spacer for Highly Scaled CMOS Technology
    Yamashita, Tenko ; Greene, Andrew M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-12-01), S. 5355-5361
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    TiO2−x–TiO2 Memristor Applications for Programmable Analog VLSI Circuits at 45 nm CMOS Technology Node
    Abhay, S. V. ; Vidhyadharan, Sanjay
    In: Transactions on Electrical and Electronic Materials, Jg. 22 (2020-10-31), S. 452-458
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    Modeling of the degradation of CMOS inverters under pulsed stress conditions from ‘on-the-fly’ measurements
    Nafria, M. ; Rodriguez, Rosana ; et al.
    2021
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    Performance Assessment of CMOS circuits using III-V on Insulator MOS Transistors
    Pandit, Soumya ; Subir Kumar Maity
    In: Silicon, Jg. 13 (2020-07-13), S. 1939-1949
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    $\pi$ -SCR Device for Broadband ESD Protection in Low-Voltage CMOS Technology
    Lai, Yu-Hsuan ; Lin, Chun-Yu
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-09-01), S. 4107-4110
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