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    Nyquist Model based Thermal Noise AnalysisFrom Passive Components to CMOS Circuits
    F. Sandoval Ibarra ; Cinvestav-Unidad Guadalajara, Av. Del Bosque , Col. El Bajío, Zapopan, Mexico ; et al.
    In: International Journal of Emerging Technology and Advanced Engineering, Jg. 11 (2021-01-26), S. 1-8
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    Chromatic and Panchromatic Nonlinear Optoelectronic CMOSFETs for CMOS Image Sensors, Laser Multiplexing, Computing, and Communication
    Pan, James N.
    In: MRS Advances, Jg. 5 (2020-07-01), S. 1965-1974
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    Impact ionization-induced bistability in CMOS transistors at cryogenic temperatures for capacitorless memory applications
    Richter, Curt A. ; Le, Son T. ; et al.
    2021
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    Solution-processable integrated CMOS circuits based on colloidal CuInSe2 quantum dots
    Klimov, Victor I. ; Neo, Darren C. J. ; et al.
    2020
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    Design of a DC and Low Frequency CMOS Active Voltage Attenuator and Level Shifter with Minimal Thermal Sensitivity
    Salah Eddine Naimi ; Harrak, Abdelkhalak
    2020
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    Electromagnetic Simulation of CMOS On-Chip Spiral Inductors in 5 GHz band
    Li, Ning ; Sogabe, Masatsugu ; et al.
    In: 2019 IEEE International Symposium on Antennas and Propagation and USNC-URSI Radio Science Meeting, 2019-07-01
    Online unknown
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    Single-electron operation of a silicon-CMOS 2x2 quantum dot array with integrated charge sensing
    Gilbert, Will ; Laucht, Arne ; et al.
    2020
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    Hold-Bias Free MEM Power Gate for Zero Standby Energy Dissipation in CMOS ICS
    Singh, Pushpapraj ; Kumar, Sushil ; et al.
    In: 2020 IEEE 33rd International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS), 2020
    Online unknown
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    Impact of Process Variation on the Accuracy of Digital CMOS Temperature Sensor
    Zou, Wanghui ; Tang, Junlong ; et al.
    In: 2019 8th International Symposium on Next Generation Electronics (ISNE), 2019-10-01
    Online unknown
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    Investigating the Dynamic Characteristics of High-Temperature SOI CMOS VLSIC Elements
    Ignatov, P. V. ; Shelepin, N. A. ; et al.
    In: Russian Microelectronics, Jg. 47 (2018-05-01), S. 197-200
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    CMOS Voltage Differencing Transconductance Amplifier with Linearly Adjustable Transconductance Gains
    Roongmuanpha, Natchanai ; Tangsrirat, Worapong ; et al.
    In: 2019 5th International Conference on Engineering, Applied Sciences and Technology (ICEAST), 2019-07-01
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    High-Voltage Gain CMOS Charge Pump at Subthreshold Operation Regime for Low Power Applications
    Banuselvasaraswathy, B. ; Gayathree, K. ; et al.
    2019
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    Characteristic Fluctuations of Dynamic Power Delay Induced by Random Nanosized Titanium Nitride Grains and the Aspect Ratio Effect of Gate-All-Around Nanowire CMOS Devices and Circuits
    Min Hui Chuang ; Pei Jung Chao ; et al.
    In: Materials (Basel, Switzerland), Jg. 12 (2019), Heft 9
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    Nanometric Integrated Temperature and Thermal Sensors in CMOS-SOI Technology
    Malits, Maria ; Nemirovsky, Yael
    In: Sensors (Basel, Switzerland), Jg. 17 (2017-07-06), Heft 8
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Circuit modeling and simulation of CMOS circuits latchup induced by microwave pulse injection
    Wang, Haiyang ; Hu, Biao ; et al.
    In: 2017 Progress in Electromagnetics Research Symposium - Fall (PIERS - FALL), 2017-11-01
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Hybrid silicon CMOS-carbon nanotube physically unclonable functions
    Karri, Ramesh ; Armstrong, Darren ; et al.
    In: 2017 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2017-10-01
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    CMOS Logic Device and Circuit Performance of Si Gate All Around Nanowire MOSFET
    Murali, Kota V. R. M. ; Konar, Aniruddha ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 61 (2014-09-01), S. 3066-3074
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    Performance and Variability of Doped Multithreshold FinFETs for 10-nm CMOS
    Riddet, Craig ; Cheng, Binjie ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 61 (2014-10-01), S. 3372-3378
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    Statistical Drain Current and Input Capacitance of MOSFET Model for High Speed CMOS Circuits Application
    Patil, Siddhasen R. ; Gautam, D. K.
    In: Silicon, Jg. 8 (2015-04-10), S. 25-31
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    Static and Dynamic Oxide-Trapped- Charge-Induced Variability in Nanoscale CMOS Circuits
    Zebrev, Gennady I.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 66 (2019-06-01), S. 2483-2488
    Online unknown
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