Zum Hauptinhalt springen
UB Hagen

Suchergebnisse

UB Katalog

Artikel & mehr
794 Treffer

Suchmaske

Suchtipp für den Bereich Artikel & mehr: Wörter werden automatisch mit UND verknüpft. Eine ODER-Verknüpfung erreicht man mit dem Zeichen "|", eine NICHT-Verknüpfung mit einem "-" (Minus) vor einem Wort. Anführungszeichen ermöglichen eine Phrasensuche.
Beispiele: (burg | schloss) -mittelalter, "berufliche bildung"

Das folgende Suchfeld wird hier nicht unterstützt: "Signatur / Strichcode".

Suchergebnisse einschränken oder erweitern

Aktive Suchfilter

Erscheinungszeitraum

Mehr Treffer

Weniger Treffer

Gefunden in

Art der Quelle

Schlagwort

Verlag

Publikation

Sprache

Geographischer Bezug

794 Treffer

Sortierung: 
  1. Detailansicht für Treffer 1 öffnen
    Transient Current Enhancement in MIS Tunnel Diodes With Lateral Electric Field Induced by Designed High-Low Oxide Layers
    Huang, Sung-Wei ; Hwu, Jenn-Gwo
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-12-01), S. 6580-6585
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    A special boundary element for holes/cracks in composite laminates under coupled stretching-bending deformation
    Hwu, Chyanbin ; Hsu, Chia-Wen
    In: Engineering Analysis with Boundary Elements, Jg. 133 (2021-12-01), S. 30-48
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    View record from ScienceDirect (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Transient thermal stress analysis of temperature-dependent anisotropic viscoelastic solids
    Hwu, Chyanbin ; Chin Hsuan Su ; et al.
    In: Journal of Thermal Stresses, Jg. 44 (2021-11-23), S. 1495-1513
    Online unknown
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Enhanced Transient Behavior in MIS(p) Tunnel Diodes by Trench Forming at the Gate Edge
    Lin, Jian-Yu ; Hwu, Jenn-Gwo
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-09-01), S. 4189-4194
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Enhanced Photo Sensing and Lowered Power Consumption in Concentric MIS Devices by Monitoring Outer Ring Open-Circuit Voltage With Biased Inner Gate
    Hwu, Jenn-Gwo ; Huang, Chen-Yun
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 68 (2021-07-01), S. 3417-3423
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    SiO~2 Thickness Dependency of C-V Dispersion in Stacked Al/HfO~2/SiO~2/4H-SiC Capacitor : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Hsu, C. ; Hwu, J.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 209-216
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Development of a Resonant Scanner to Improve the Imaging Rate of Astigmatic Optical Profilometers
    Hwu, En-Te ; Liao, Hsien-Shun ; et al.
    In: IEEE/ASME Transactions on Mechatronics, Jg. 26 (2021-04-01), S. 1172-1177
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Consumer-Grade Inkjet Printer for Versatile and Precise Chemical Deposition
    Højgaard, Jesper ; Hwu, En-Te ; et al.
    In: ACS Omega, Jg. 6 (2021-03-09), S. 7786-7794
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Capacitance Analysis of Transient Behavior Improved Metal-Insulator-Semiconductor Tunnel Diodes With Ultra Thin Metal Surrounded Gate
    Huang, Sung-Wei ; Hwu, Jenn-Gwo
    In: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Jg. 9 (2021), S. 1041-1048
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Edge-enhanced radiology with broadband synchrotron X-rays : Synchrotron radiation in materials science; Beam interactions with materials and atoms
    Tsai, W. L. ; Hsu, P. C. ; et al.
    In: NUCLEAR INSTRUMENTS AND METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B, Jg. 199 (2003), S. 436-440
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Real-time observation of Zn electro-deposition with high-resolution microradiology : Synchrotron radiation in materials science; Beam interactions with materials and atoms
    Tsai, W. L. ; Hsu, P. C. ; et al.
    In: NUCLEAR INSTRUMENTS AND METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B, Jg. 199 (2003), S. 451-456
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Grain boundary imaging, gallium diffusion and the fracture behavior of Al-Zn Alloy - An in situ study : Synchrotron radiation in materials science; Beam interactions with materials and atoms
    Tsai, W. L. ; Hwu, Y. ; et al.
    In: NUCLEAR INSTRUMENTS AND METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B, Jg. 199 (2003), S. 457-463
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Real-time microradiology of disintegration of iron ore sinteres : Synchrotron radiation in materials science; Beam interactions with materials and atoms
    Kim, J. R. ; Kang, H. S. ; et al.
    In: NUCLEAR INSTRUMENTS AND METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B, Jg. 199 (2003), S. 441-445
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Influence of Cr and Mo on the passivation of stainless steel 430 (18Cr) and 444 (18Cr-2Mo): In situ XANES study : Synchrotron radiation in materials science; Beam interactions with materials and atoms
    Doh, S. J. ; Je, J. H. ; et al.
    In: NUCLEAR INSTRUMENTS AND METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B, Jg. 199 (2003), S. 211-215
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Synchrotron X-ray induced solution precipitation of nanoparticles : Synchrotron radiation in materials science; Beam interactions with materials and atoms
    Lee, H. J. ; Je, J. H. ; et al.
    In: NUCLEAR INSTRUMENTS AND METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B, Jg. 199 (2003), S. 342-347
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    A structural study of effects of NiP seed layer on the magnetic properties of CoCrPt/Ti/NiP perpendicular magnetic films : Synchrotron radiation in materials science; Beam interactions with materials and atoms
    Sun, C. J. ; Chow, G. M. ; et al.
    In: NUCLEAR INSTRUMENTS AND METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B, Jg. 199 (2003), S. 156-160
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Prolonged Transient Behavior of Ultrathin Oxide MIS-Tunneling Diode Induced by Deep Depletion of Surrounded Coupling Electrode
    Hwu, Jenn-Gwo ; Ting-Hao, Hsu
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 67 (2020-08-01), S. 3411-3416
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    The Development and Application of Imaging EXAFS Spectromicroscopy : Synchrotron radiation in materials science
    Hwu, Y. ; Tsai, W. L. ; et al.
    In: JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS -SUPPLEMENT-, Jg. 38 (1998), Heft NO 1, S. 646-649
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Photoabsorption and MXCD in Photoemission Microscopy for Characterization of Advanced Materials : Synchrotron radiation in materials science
    Fecher, G. H. ; Hwu, Y.
    In: JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS -SUPPLEMENT-, Jg. 38 (1998), Heft NO 1, S. 313-316
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    SR phase contrast imaging to address the evolution of defects during SiC growth
    ARGUNOVA, Tatiana S ; GUTKIN, Mikhail Yu ; et al.
    In: Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print), Jg. 208 (2011), Heft 4, S. 819-824
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -