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  1. Liao, T. ; Zhang, L.
    In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Jg. 40 (2021-08-01), Heft 8, S. 1511-1524
    Online academicJournal
  2. Bao, H. ; Chen, L.
    In: IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology, Jg. 10 (2020-04-01), Heft 4, S. 723-729
    Online academicJournal
  3. Sharma, A. ; Alam, N. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-06-01), Heft 6, S. 2413-2421
    Online academicJournal
  4. Gothe, Sourabh Vasant ; Ghosh, Sourav ; et al.
    In: 2020 IEEE 14th International Conference on Semantic Computing (ICSC), 2020-02-01, S. 279-286
    Konferenz
  5. Duan, T. ; Dinavahi, V.
    In: IEEE Open Journal of Industry Applications, Jg. 2 (2021), S. 194-203
    Online academicJournal
  6. Liao, Tuotian ; Zhang, Lihong
    In: 2018 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), 2018-05-27, S. 1-5
    Konferenz
  7. Chen, D.C. ; Lin, G.S. ; et al.
    In: Proceedings of the 2015 International Conference on Microelectronic Test Structures, 2015-03-01, S. 110-115
    Konferenz
  8. Zou, Zhiyun ; Zhao, Dandan ; et al.
    In: 2013 Fourth International Conference on Intelligent Control and Information Processing (ICICIP), 2013-06-01, S. 661-665
    Konferenz
  9. Zhang, Yu ; Liu, Bo ; et al.
    In: Thirteenth International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2012-03-01, S. 464-469
    Konferenz
  10. Alam, N. ; Anand, B. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, Jg. 61 (2014-06-01), Heft 6, S. 1714-1726
    Online academicJournal
  11. Ndiaye, C. ; Berthelon, R. ; et al.
    In: 2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2017-04-01, S. 1
    Konferenz
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