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    New strategy for direct laser writing of low loss waveguide
    Masselin, P. ; Bychkov, E. ; et al.
    In: 2017 19th International Conference on Transparent Optical Networks (ICTON), 2017-07-01, S. 1-4
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Laser Frequency Stabilization Based on Spectral-Hole Burning Using Double-Heterodyne Detection
    Galland, N. ; Seidelin, S. ; et al.
    In: 2019 Joint Conference of the IEEE International Frequency Control Symposium and European Frequency and Time Forum (EFTF/IFC), 2019-04-01, S. 1-2
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    High precision phase and frequency measurements in rare Earth doped crystals at cryogenic temperatures for probing nanoresonators behavior
    Galland, N. ; Gobron, O. ; et al.
    In: 2017 Joint Conference of the European Frequency and Time Forum and IEEE International Frequency Control Symposium (EFTF/IFCS), 2017-07-01, S. 771-772
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Long distance phase-coherent link between near- and mid-infrared frequencies
    Argence, B. ; Chanteau, B. ; et al.
    In: 2013 Joint European Frequency and Time Forum & International Frequency Control Symposium (EFTF/IFC), 2013-07-01, S. 108-110
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A compact high stability optical clock based on laser-cooled Ca
    Oates, C. W. ; Le Coq, Y. ; et al.
    In: Proceedings of the 20th European Frequency and Time Forum, 2006-03-01, S. 346-349
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Precise molecular spectroscopy using a stable and tuneable frequency comb
    Tran, Dang Bao An ; Santagata, Rosa ; et al.
    In: 2017 Conference on Lasers and Electro-Optics Europe & European Quantum Electronics Conference (CLEO/Europe-EQEC), 2017-06-01, S. 1-1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Characterizing a fiber-based frequency comb with electro-optic modulator
    Zhang, W. ; Lours, M. ; et al.
    In: IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control, Jg. 59 (2012-03-01), Heft 3, S. 432
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Reaching the 10−15 accuracy range with a Hg optical lattice clock
    McFerran, J. J. ; Yi, L. ; et al.
    In: 2012 IEEE International Frequency Control Symposium Proceedings, 2012-05-01, S. 1-1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Laser attacks on integrated circuits: From CMOS to FD-SOI
    Dutertre, Jean-Max ; De Castro, Stephan ; et al.
    In: 2014 9th IEEE International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS), 2014-05-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Building the electrical model of the pulsed photoelectric laser stimulation of a PMOS transistor in 90nm technology
    Sarafianos, Alexandre ; Gagliano, Olivier ; et al.
    In: Proceedings of the 20th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2013-07-01, S. 22-27
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Low-cost copper conductive grids for thin-film solar cells formed by screen printing and laser sintering
    Henley, S.J. ; Kula, M. ; et al.
    In: 2015 IEEE 42nd Photovoltaic Specialist Conference (PVSC), 2015-06-01, S. 1-3
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Characterization and TCAD simulation of 90 nm technology transistors under continous photoelectric laser stimulation for failure analysis improvement
    Llido, R. ; Sarafianos, A. ; et al.
    In: 2012 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2012-07-01, S. 1-6
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    NVM cell degradation induced by femtosecond laser backside irradiation for reliability tests
    Della Marca, V. ; Chambonneau, M. ; et al.
    In: 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016-04-01, S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Building the electrical model of the pulsed photoelectric laser stimulation of an NMOS transistor in 90nm technology
    Sarafianos, Alexandre ; Gagliano, Olivier ; et al.
    In: 2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2013-04-01, S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Improving defect localization techniques with laser beam with specific analysis and set-up modules
    Llido, R. ; Gomez, J. ; et al.
    In: 2012 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2012-04-01, S. 1
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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