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    A pure Python implementation of the MSA / MAS / AMAS HyperDimensional Data File
    Pinard, Philippe T. ; Richter, Silvia
    2016
    Online Elektronische Ressource
    Wie komme ich dran?
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    Extracting chemical information from energy-dispersive x-ray spectra by multivariate statistical analysis (MSA) : Microscopy Society of America
    Saunders, M. ; Menon, E. S. K. ; et al.
    In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS, Jg. 4, Heft SUPP 2, S. 204-205
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    The MSA Bold Strategic Initiative Funding Program.
    Jerome, Jay
    In: Microscopy Today, Jg. 27 (2019-07-01), Heft 4, S. 38-41
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    Siehe Detailanzeige für Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Applications of Multivariate Statistical Analysis (MSA) in Microanalysis
    Anderson, I. M. ; United States. Department of Energy. Office of Energy Research.
    In: Proceedings of the 5th Annual Biennial Meeting of the Australian Microbeam Analysis Society (AMAS), Sydney (AU), 02/16/1999--02/19/1999, 1999
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Applications of Multivariate Statistical Analysis (MSA) in Microanalysis
    Anderson, I.M.
    2008
    unknown
    Wie komme ich dran?
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    Microstructure of Copper Films and Its Oxides Prepared by Electron Beam Evaporation and ECR Plasmon Oxidation : Microscopy Society of America
    Campin, M. ; Barbour, J. ; et al.
    In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK-, Jg. 7 (2001), Heft SUPPL 2, S. 1280-1281
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    The Atmosphere and Milling Devices Effects on the Activation Energy for Crystallization of a Partially Amorphized Ni-Mo Alloy : Microscopy Society of America
    Martinez-Sanchez, R. ; Estrada-Guel, I. ; et al.
    In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK-, Jg. 7 (2001), Heft SUPPL 2, S. 1272-1273
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    TEM Characterization of Corrosion Initiation in Passive Films : Microscopy Society of America
    Elswick, D. ; Hren, J. ; et al.
    In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK-, Jg. 7 (2001), Heft SUPPL 2, S. 1278-1279
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    The Geometric Compatability Factor Determining Brittle Crack Propagation Across Boundaries in Bainitic Low Alloy Steels : Microscopy Society of America
    Oh, Y. J. ; Kim, M. C. ; et al.
    In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK-, Jg. 7 (2001), Heft SUPPL 2, S. 1266-1267
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    RMS Strain <e2>1/2 Variation Vs Grain Refining During Annealing of Co50Ti50 Synthesized by AM-SPS : Microscopy Society of America
    Martinez-Sanchez, R. ; Bejar-Gomez, L. ; et al.
    In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK-, Jg. 7 (2001), Heft SUPPL 2, S. 1270-1271
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    In-Situ Study of NiO Growth on Textured Nickel Tape using Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) and Hot Stage : Microscopy Society of America
    Akin, Y. ; Goddard, R. ; et al.
    In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK-, Jg. 7 (2001), Heft SUPPL 2, S. 1276-1277
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Initial Oxidation Kinetics of Copper (110) Thin Films as Investigated by In-Situ UHV-TEM : Microscopy Society of America
    Zhou, G. ; Bharadwaj, M. ; et al.
    In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK-, Jg. 7 (2001), Heft SUPPL 2, S. 1274-1275
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Medium-Range Order in Metallic Glasses Studied by Fluctuation Microscopy : Microscopy Society of America
    Li, J. ; Gu, X. ; et al.
    In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK-, Jg. 7 (2001), Heft SUPPL 2, S. 1260-1261
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Phase Identification in Melt Spun Mg-1.5%wtCa-6%wtZn Alloy Using Electron Diffraction and HREM : Microscopy Society of America
    Jardim, P. M. ; Solorzano, G. ; et al.
    In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK-, Jg. 7 (2001), Heft SUPPL 2, S. 1262-1263
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A Study on Precipitation in Clean Microalloyed Steels : Microscopy Society of America
    Wang, Y. ; Liu, D. ; et al.
    In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK-, Jg. 7 (2001), Heft SUPPL 2, S. 1264-1265
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    SEM Characterization of Hydrogenated Nickel : Microscopy Society of America
    Tavares, S. S. ; Lafuente, A. ; et al.
    In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK-, Jg. 7 (2001), Heft SUPPL 2, S. 1268-1269
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Effect of Shape on Solid-Liquid Phase Changes of Xe Precipitates in an Al Matrix : Microscopy Society of America
    Mitsuishi, K. ; Allen, C. W. ; et al.
    In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK-, Jg. 7 (2001), Heft SUPPL 2, S. 1258-1259
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    The Determination of the Orientation Relationship Between Primary and Eutectic Aluminum in a Cast 319 Aluminum Alloy : Microscopy Society of America
    Donlon, W. T. ; Zindel, J. W.
    In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK-, Jg. 7 (2001), Heft SUPPL 2, S. 1250-1251
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Gamma Phase Precipitation Processes in Quenched Beta Phase Cu-Zn-Al Alloys at an Electron Concentration of 1.53 : Microscopy Society of America
    Condo, A. M. ; Larochette, P. A. ; et al.
    In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK-, Jg. 7 (2001), Heft SUPPL 2, S. 1252-1253
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Analysis of the Eutectoid Phase Transformation in Complex DS Nb-Silicide In-Situ Composites : Microscopy Society of America
    Sitzman, S. D. ; Bewlay, B. P.
    In: MICROSCOPY AND MICROANALYSIS -NEW YORK-, Jg. 7 (2001), Heft SUPPL 2, S. 1244-1245
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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