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    Enabling robust automotive electronic components in advanced CMOS nodes.
    Huard, V. ; Mhira, S. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 76 (2017-09-01), S. 13-24
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Low-capacitance ESD protection design for high-speed I/O interfaces in a 130-nm CMOS process : International Microelectronics and Packaging Society; IMAPS-CPMT Poland 2008
    Hsiao, Y. W. ; Ker, M. D.
    In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 49 (2009), Heft 6, S. 650-659
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Passivation issues in active pixel CMOS image sensors : Workshop on dielectrics in microelectronics (WoDiM 2006)
    Regolini, J. L. ; Benoit, D. ; et al.
    In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 47 (2007), Heft NO 4-5, S. 739-742
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Channel hot carrier effects in n-MOSFET devices of advanced submicron CMOS technologies : Workshop on dielectrics in microelectronics (WoDiM 2006)
    La Rosa, G. ; Rauch, S. E.
    In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 47 (2007), Heft NO 4-5, S. 552-558
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Optimization of HfSiON using a design of experiment (DOE) approach on 0.45V Vt Ni-FUSI CMOS transistors : Workshop on dielectrics in microelectronics (WoDiM 2006)
    Rothschild, A. ; Mitsuhashi, R. ; et al.
    In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 47 (2007), Heft NO 4-5, S. 521-524
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Anomalous latchup failure induced by on-chip ESD protection circuit in a high-voltage CMOS IC product : Dielectrics in microelectronics
    Lin, I. C. ; Huang, C. Y. ; et al.
    In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 43 (2003), Heft NO 8, S. 1295-1302
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Carrier injection efficiency for the reliability study of 3.5-1.2 nm thick gate-oxide CMOS technologies : Dielectrics in microelectronics
    Bravaix, A. ; Trapes, C. ; et al.
    In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 43 (2003), Heft NO 8, S. 1241-1246
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Sub-100 nm CMOS circuit performance with high-K gate dielectrics : Dielectrics in microelectronics
    Mohapatra, N. R. ; Dutta, A. ; et al.
    In: MICROELECTRONICS RELIABILITY, Jg. 41 (2001), Heft NO 7, S. 1045-1048
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Monitoring of thermo-mechanical stress via CMOS sensor array: Effects of warpage and tilt in flip chip thermo-compression bonding
    Laor, Ari ; Mayer, Michael ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 73 (2017-06-01), S. 60-68
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Effect of fin shape of tapered FinFETs on the device performance in 5-nm node CMOS technology.
    Kurniawan, Erry Dwi ; Yang, Hao ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 83 (2018-04-01), S. 254-259
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Investigation on SCR-based ESD protection device for biomedical integrated circuits in a 0.18-μm CMOS process.
    Lin, Chun-Yu ; Chiu, Yan-Lian
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 55 (2015-11-01), Heft 11, S. 2229-2235
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Advanced failure detection techniques in deep submicron CMOS integrated circuits
    Mateo, Diego ; Altet, Josep ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 39 (1999-06-01), S. 909-918
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Reliability analysis of hybrid spin transfer torque magnetic tunnel junction/CMOS majority voters.
    Slimani, M. ; Butzen, P. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 64 (2016-09-01), S. 48-53
    academicJournal
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    ANN based CMOS ASIC design for improved temperature-drift compensation of piezoresistive micro-machined high resolution pressure sensor
    Futane, N.P. ; Chowdhury, S. Roy ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 50 (2010-02-01), Heft 2, S. 282-291
    academicJournal
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Micropower fully integrated CMOS readout interface for neural recording application
    Li, Hongge ; Zhao, Wei ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 50 (2010-02-01), Heft 2, S. 273-281
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Design of a novel chip on glass package solution for CMOS image sensor device
    Chen, Ching-Yang ; Chao, Yung-Ching ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 46 (2006-08-01), Heft 8, S. 1326-1334
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Compact failure modeling for devices subject to electrostatic discharge stresses – A review pertinent to CMOS reliability simulation.
    Miao, Meng ; Zhou, Yuanzhong ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 55 (2015), Heft 1, S. 15-23
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Symmetrical ESD trigger and pull-up using BIMOS transistor in advanced CMOS technology
    Galy, Ph. ; Bourgeat, J. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 52 (2012-09-01), Heft 9/10, S. 1998-2004
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Scaling the bulk-driven MOSFET into deca-nanometer bulk CMOS processes
    Urban, Christopher ; Moon, James E. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 51 (2011-04-01), Heft 4, S. 727-732
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    MEMS technology integrated in the CMOS back end
    Gaddi, R. ; Van Kampen, R. ; et al.
    In: Microelectronics Reliability, Jg. 50 (2010-09-01), Heft 9-11, S. 1593-1598
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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