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    Insights into the Microstructural Engineering of Cobalt‐Free, High‐Nickel Cathodes Based on Surface Energy for Lithium‐Ion Batteries.
    Kim, Youngjin ; Kim, Hanseul ; et al.
    In: Advanced Energy Materials, Jg. 13 (2023-06-02), Heft 21, S. 1-8
    Online academicJournal
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    EFFECT OF LATTICE MISMATCH ON THE MICROSTRUCTURE AND ELECTRICAL PROPERTIES OF LaNiO<subscript>3</subscript> CONDUCTIVE FILMS.
    ZHU, M. W. ; YOU, B. D. ; et al.
    In: Surface Review & Letters, Jg. 29 (2022-09-01), Heft 9, S. 1-9
    academicJournal
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    The microstructure, leakage current and dielectric behaviors of (Nd,Ti)-codoped BiFeO thin films: effect of deposited substrate.
    Yang, C. ; Lv, P. ; et al.
    In: Journal of Materials Science: Materials in Electronics, Jg. 28 (2017-02-15), Heft 4, S. 3423-3427
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    The role of oxygen pressure and thickness on structure and pyroelectric properties of Ba(Ti<subscript>0.85</subscript>Sn<subscript>0.15</subscript>)O<subscript>3</subscript> thin films grown by pulsed laser deposition.
    Wang, S. J. ; Lu, L. ; et al.
    In: Journal of Applied Physics, Jg. 105 (2009-04-15), Heft 8, S. 84102-84109
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
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    X-ray diffraction, atomic force microscopy and raman spectroscopy studies of microstructure of BiFeO thin films on Pt/Ti/SiO/Si (111) substrates.
    Fan, Fei ; Luo, Bingcheng ; et al.
    In: Journal of Applied Spectroscopy, Jg. 80 (2013-07-01), Heft 3, S. 378-383
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
    View record at Springer (Volltext)
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    The Effects of Buffers on the Microstructure and Electrical Properties of Mn/Y Co-Doped Ba 0.67 Sr 0.33 TiO 3 Thin Films.
    Chen, X. Y. ; Yang, C. L. ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 140 (2013), Heft 1, S. 132-139
    academicJournal
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    Rapid Microwave Annealing of Amorphous Lead Zirconate Titanate Thin Films Deposited by Sol-Gel Method on La NiO<subscript>3</subscript>/ SiO<subscript>2</subscript>/ Si Substrates.
    Chen, Y. N. ; Wang, Z. J. ; et al.
    In: Journal of the American Ceramic Society, Jg. 96 (2013), Heft 1, S. 90-95
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Microstructure and electrical properties of LaNiO3 thin films by RF sputtering for the growth of (Pb,La)(Zr,Ti)O3 films on silicon and nickel substrates.
    Liu, Shanshan ; Ma, Beihai ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films, Jg. 30 (2012-11-01), Heft 6, S. 61505-61512
    academicJournal
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    EFFECT OF SPUTTERING WORKING PRESSURE ON MICROSTRUCTURES AND PROPERTIES OF PZT THIN FILMS.
    Zhang, X.D. ; Lin, T. ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 113 (2009-11-01), Heft 1, S. 31-40
    academicJournal
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    Electro-optic properties of epitaxial Sr<subscript>0.6</subscript>Ba<subscript>0.4</subscript>Nb<subscript>2</subscript>O<subscript>6</subscript> films grown on MgO substrates using Li<subscript>x</subscript>Ni<subscript>2-x</subscript>O buffer layer.
    Li, X.T. ; Du, P.Y. ; et al.
    In: Applied Physics A: Materials Science & Processing, Jg. 92 (2008-08-01), Heft 2, S. 397-400
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Effects of oxygen pressure on the microstructure of LaNiO<subscript>3</subscript> conductive thin film monitored by in situ reflection high energy diffraction.
    Zhu, Jun ; Zheng, Liang ; et al.
    In: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films, Jg. 24 (2006-11-01), Heft 6, S. 1985-1991
    academicJournal
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    Enhanced dielectric and piezoelectric properties of (100) oriented BiNaTiO-BaTiO-SrTiO thin films.
    Li, Wei ; Xu, Zhijun ; et al.
    In: Journal of Materials Science: Materials in Electronics, Jg. 27 (2016-09-01), Heft 9, S. 8911-8915
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext (PDF)
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    Relationship Processing–Composition–Structure–Resistivity of LaNiO3 Thin Films Grown by Chemical Vapor Deposition Methods.
    Kuprenaite, Sabina ; Astié, Vincent ; et al.
    In: Coatings (2079-6412), Jg. 9 (2019), Heft 1, S. 35-35
    Online academicJournal
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    Phase Diagrams of Refractory Oxide Systems and Microstructural Design of Materials.
    Dudnik, E. ; Lakiza, S. ; et al.
    In: Powder Metallurgy & Metal Ceramics, Jg. 53 (2014-09-01), Heft 5/6, S. 303-311
    Online academicJournal
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    Ferroelectric Properties of BiFeO3 Thin Films Prepared via a Simple Chemical Solution Deposition.
    Cheng, Gao ; Xiangjian, Meng ; et al.
    In: Ferroelectrics, Jg. 406 (2010-09-01), Heft 1, S. 137-142
    academicJournal
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    Influence of substrate orientation on the morphologyand orientation of LaNiO<subscript>3</subscript> thin films.
    POČUČA, M. ; BRANKOVIĆ, Z. ; et al.
    In: Journal of Microscopy, Jg. 232 (2008-12-01), Heft 3, S. 585-588
    Online academicJournal
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    THE MICROSTRUCTURE CHARACTERISTICS AND DIELECTRIC BEHAVIORS OF THE COMPOSITIONALLY GRADED Ba(Ti,Sn)O 3 THIN FILMS.
    ZHAI, JIWEI ; SONG, SANNIAN ; et al.
    In: Integrated Ferroelectrics, Jg. 74 (2005-09-01), Heft 1, S. 137-145
    academicJournal
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    Temperature and frequency dependence of dielectric properties of (Pb, La)(Zr, Sn, Ti)O3 antiferroelectric thin films on LaNiO3 bottom electrode with different sheet resistance.
    Hao, Xihong ; Zhai, Jiwei ; et al.
    In: Journal of Physics D: Applied Physics, Jg. 41 (2008-08-21), Heft 16, S. 65403-65403
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
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