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    Développement et caractérisation de nouveaux procédés de passivation pour les capteurs d'images CMOS
    Ait Fqir Ali, Fatima Zahra
    2013
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  2. Detailansicht für Treffer 2 öffnen
    Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors et circuits millimétriques conçus en technologies BiCMOS et CMOS
    Ighilahriz, Salim
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    CMO: modélisation, identification, calcul de structures et fiabilités / Organic matrix composite: modeling, identification , calculation of structures and reliabilities
    BOUBAKAR, M. L ; PERREUX, D ; et al.
    In: 40e Anniversaire du Laboratoire de Mécanique Appliquée R. Chaléat : 1er Colloque Interaction Modèle Expérien ce, Jg. 102 (2002), S. Pr11.227
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Ultra-thin gate oxide reliability under Electrostatic Discharge (ESD) in deep sub-micrometer CMOS technologies
    Ille, Adrien ; Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP) ; et al.
    2008
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    Fiabilité des oxydes de grille ultra-minces sous décharges électrostatiques dans les technologies CMOS fortement sub-microniques
    Ille, Adrien ; Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP) ; et al.
    2008
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Ultra-thin gate oxide reliability under Electrostatic Discharge (ESD) in deep sub-micrometer CMOS technologies ; Fiabilité des oxydes de grille ultra-minces sous décharges électrostatiques dans les technologies CMOS fortement sub-microniques
    Ille, Adrien ; Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP) ; et al.
    In: https://theses.hal.science/tel-00407545 ; Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université de Provence - Aix-Marseille I, 2008. Français. ⟨NNT : ⟩, 2008
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Etude de la fiabilité des technologies CMOS avancées, depuis la création des défauts jusqu'à la dégradation des transistors
    Mamy Randriamihaja, Yoann
    2012
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Reliability characterization and modeling of transistors and millimetric waves circuits designed in BiCMOS and CMOS technologies ; Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors et circuits millimétriques conçus en technologies BiCMOS et CMOS
    Ighilahriz, Salim ; Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC) ; et al.
    In: https://theses.hal.science/tel-01060162 ; Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université de Grenoble, 2014. Français. ⟨NNT : 2014GRENT016⟩, 2014
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors et circuits millimétriques conçus en technologies BiCMOS et CMOS ; Reliability characterization and modeling of transistors and millimetric waves circuits designed in BiCMOS and CMOS technologies
    Ighilahriz, Salim ; Grenoble ; et al.
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Développement et caractérisation de nouveaux procédés de passivation pour les capteurs d'images CMOS ; Development and characterization of new passivation processes for CMOS images sensors
    Ait Fqir Ali, Fatima Zahra ; 1, Lyon ; et al.
    2013
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Organisation de la sous-traitance, approche processus / Sub-contracting organization: a process approach
    MONJANEL, X
    In: Sous-traitance/externalisation dans l'industrie pharmaceutique, Jg. 13 (2003), Heft 5, S. 361-376
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Study of the reliability and mechanisms of degradation in DSM digital integrated circuits
    Coutet, Julien ; Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS) ; et al.
    2020
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Compréhension de l'apport des contraintes mécaniques sur les performances électriques des transistors avancés sur SOI
    Idrissi-El Oudrhiri, Anouar
    2016
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Understanding of mechanical stress contribution on the electrical performances of advanced transistors on SOI
    Idrissi-El Oudrhiri, Anouar ; Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI) ; et al.
    2016
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Contribution à la conception d'un système d'acquisition de signaux biomédicaux pour la télésurveillance médicale
    Tlili, Mariam
    2018
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Contribution to the design of a biomedical signals acquisition system for medical telemonitoring
    Tlili, Mariam ; Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS) ; et al.
    2018
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Étude de la fiabilité et des mécanismes de dégradation dans les composants numériques de dernière génération ; Study of the reliability and mechanisms of degradation in DSM digital integrated circuits
    Coutet, Julien ; Bordeaux ; et al.
    2020
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Study of the reliability and mechanisms of degradation in DSM digital integrated circuits ; Étude de la fiabilité et des mécanismes de dégradation dans les composants numériques de dernière génération
    Coutet, Julien ; Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS) ; et al.
    In: https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-03352879 ; Electronique. Université de Bordeaux, 2020. Français. ⟨NNT : 2020BORD0130⟩, 2020
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Conception et exploitation d'un banc d'auto-caractérisation pour la prévision de la fiabilité des circuits numériques programmables
    Naouss, Mohammad
    2016
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Understanding of mechanical stress contribution on the electrical performances of advanced transistors on SOI ; Compréhension de l'apport des contraintes mécaniques sur les performances électriques des transistors avancés sur SOI
    Idrissi-El Oudrhiri, Anouar ; Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI) ; et al.
    In: https://theses.hal.science/tel-01501255 ; Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université Grenoble Alpes, 2016. Français. ⟨NNT : 2016GREAT074⟩, 2016
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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