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195 Treffer

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    Développement et caractérisation de nouveaux procédés de passivation pour les capteurs d'images CMOS
    Ait Fqir Ali, Fatima Zahra
    2013
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors et circuits millimétriques conçus en technologies BiCMOS et CMOS
    Ighilahriz, Salim
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
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    Redistribution atomique de contaminants métalliques aux interfaces des structures des technologies CMOS
    De Luca, Anthony
    2014
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    Modélisation dynamique avancée des Composites à Matrice Organique (CMO) pour l’étude de la vulnérabilité des structures aéronautiques
    Castres, Magali ; DMAS, ONERA [Lille] ; et al.
    2018
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Détermination expérimentale et numérique de l'endommagement induit par un impact basse vitesse sur un stratifié CMO à préformes textiles dans un contexte industriel
    Treutenaere, Sylvain ; Lauro, Franck ; et al.
    In: Journées Nationales sur les Composites 2017 ; https://hal.science/hal-01621591 ; Journées Nationales sur les Composites 2017, École des Ponts ParisTech (ENPC), Jun 2017, Champs-sur-Marne, France, 2017
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    Caractérisation et modélisation de UTBB MOSFET sur SOI pour les technologies CMOS avancées et applications en simulations circuits
    Karatsori, Theano ; Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC ) ; et al.
    2017
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    CMO: modélisation, identification, calcul de structures et fiabilités / Organic matrix composite: modeling, identification , calculation of structures and reliabilities
    BOUBAKAR, M. L ; PERREUX, D ; et al.
    In: 40e Anniversaire du Laboratoire de Mécanique Appliquée R. Chaléat : 1er Colloque Interaction Modèle Expérien ce, Jg. 102 (2002), S. Pr11.227
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Ultra-thin gate oxide reliability under Electrostatic Discharge (ESD) in deep sub-micrometer CMOS technologies
    Ille, Adrien ; Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP) ; et al.
    2008
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Fiabilité des oxydes de grille ultra-minces sous décharges électrostatiques dans les technologies CMOS fortement sub-microniques
    Ille, Adrien ; Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP) ; et al.
    2008
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Etude et amélioration de l'électromigration pour améliorer la durée de vie des interconnexions des technologies CMOS
    Marti, Giulio ; Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés (SIMaP ) ; et al.
    2016
    Online unknown
    Zugriff:
    View record in OpenAIRE (Volltext)
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Composants Passifs Intégrés en Technologie CMOS pour la Miniaturisation des Circuits RF
    Salimy, S. ; Challali, F. ; et al.
    In: Revue Méditerranéenne des Télécommunications; Vol. 1, No 1 (2011) ; 2458-6765, 2012
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Ultra-thin gate oxide reliability under Electrostatic Discharge (ESD) in deep sub-micrometer CMOS technologies ; Fiabilité des oxydes de grille ultra-minces sous décharges électrostatiques dans les technologies CMOS fortement sub-microniques
    Ille, Adrien ; Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP) ; et al.
    In: https://theses.hal.science/tel-00407545 ; Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université de Provence - Aix-Marseille I, 2008. Français. ⟨NNT : ⟩, 2008
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Microphone électrodynamique MEMS en technologie CMOS : étude, modélisation et réalisation
    Tounsi, F. ; Torella, Lucie
    2010
    Online unknown
    Zugriff:
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    Wie komme ich dran?
  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Advanced dynamic modelling of Organic Matrix Composites (OMC) to tudy vulnerability of aeronautical structures ; Modélisation dynamique avancée des Composites à Matrice Organique (CMO) pour l’étude de la vulnérabilité des structures aéronautiques
    Castres, Magali ; DMAS, ONERA Lille ; et al.
    In: https://hal.science/tel-01987953 ; Matériaux. CENTRALE LILLE, 2018. Français. ⟨NNT : ⟩, 2018
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Etude de la fiabilité des technologies CMOS avancées, depuis la création des défauts jusqu'à la dégradation des transistors
    Mamy Randriamihaja, Yoann
    2012
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    Electrical characterization and modeling of advanced nano-scale ultra thin body and buried oxide MOSFETs and application in circuit simulations ; Caractérisation et modélisation de UTBB MOSFET sur SOI pour les technologies CMOS avancées et applications en simulations circuits
    Karatsori, Theano ; Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC ) ; et al.
    In: https://theses.hal.science/tel-01690112 ; Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université Grenoble Alpes; Université Aristote (Thessalonique, Grèce), 2017. Français. ⟨NNT : 2017GREAT035⟩, 2017
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Caractérisation et modélisation de UTBB MOSFET sur SOI pour les technologies CMOS avancées et applications en simulations circuits ; Electrical characterization and modeling of advanced nano-scale ultra thin body and buried oxide MOSFETs and application in circuit simulations
    Karatsori, Theano ; Université Grenoble Alpes (ComUE) ; et al.
    2017
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Interconnexion life time optimisation by improvement of electromigration understanding ; Etude et amélioration de l'électromigration pour améliorer la durée de vie des interconnexions des technologies CMOS
    Marti, Giulio ; Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés (SIMaP ) ; et al.
    In: https://theses.hal.science/tel-01844256 ; Autre. Université Grenoble Alpes, 2016. Français. ⟨NNT : 2016GREAI111⟩, 2016
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Etude et amélioration de l'électromigration pour améliorer la durée de vie des interconnexions des technologies CMOS ; Interconnexion life time optimisation by improvement of electromigration understanding
    Marti, Giulio ; Université Grenoble Alpes (ComUE) ; et al.
    2016
    Hochschulschrift
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Reliability characterization and modeling of transistors and millimetric waves circuits designed in BiCMOS and CMOS technologies ; Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors et circuits millimétriques conçus en technologies BiCMOS et CMOS
    Ighilahriz, Salim ; Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC) ; et al.
    In: https://theses.hal.science/tel-01060162 ; Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université de Grenoble, 2014. Français. ⟨NNT : 2014GRENT016⟩, 2014
    Online Hochschulschrift
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
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