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    Reliability of 50 nm low-noise metamorphic HEMTs and LNAs.
    Dammann, M. ; Leuther, A. ; et al.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 41 (2005-06-09), Heft 12, S. 699-701
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Noise figure measurement of three-port differential low-noise amplifiers.
    Prinsloo, D.S. ; Meyer, P.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 48 (2012-05-10), Heft 10, S. 578-580
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
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    Wideband balanced AlGaN/GaN HEMT MMIC low noise amplifier.
    Seo, S. ; Pavlidis, D. ; et al.
    In: Electronics Letters (Institution of Engineering & Technology), Jg. 41 (2005-08-04), Heft 16, S. 909-911
    academicJournal
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -