Piotr Dumania, Krystyna Świątek. Wyznaczanie profilu rozkładu przestrzennego ładunku nieruchomego w warstwie dielektryka struktury MIS metodą optycznej stymulacji stanów pułapkowych / Jan Grabski, Zdzisław Majewski. Elektryczne metody pomiaru gęstości stanów powierzchniowych wykorzystujące strukturę MOS / Jacek Marczewski.