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In: Microelectronics and reliability, Jg. 53 (2013), Heft 3, S. 349-355academicJournalZugriff:
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In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 59 (2012), Heft 4, S. 994-1001Online academicJournalZugriff:
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In: Microelectronics and reliability, Jg. 54 (2014), Heft 6-7, S. 1090-1095academicJournalZugriff:
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In: IEEE transactions on nanotechnology, Jg. 11 (2012), Heft 3, S. 472-478Online academicJournalZugriff:
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In: Selected extended papers from ULIS 2012 conference, Jg. 88 (2013), S. 32-36academicJournalZugriff: