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    Analysis of Random Variations and Variation-Robust Advanced Device Structures
    Nam, Hyohyun ; Gyo Sub Lee ; et al.
    In: JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, Jg. 14 (2014-02-28), Heft 1, S. 8-21
    Online academicJournal
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    Theoretical Analysis of Frequency Dependent Input Resistance in RF MOSFETs
    Jahyun Ahn (안자현) ; Seonghearn Lee (이성현)
    In: 전자공학회논문지, Jg. 54 (2017-05-31), Heft 5, S. 11-15
    academicJournal
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    Accurate RF C-V Method to Extract Effective Channel Length and Parasitic Capacitance of Deep-Submicron LDD MOSFETs
    Lee, Sangjun ; Lee, Seonghearn
    In: JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, Jg. 15 (2015-12-31), Heft 6, S. 653-656
    Online academicJournal
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    Large-Signal Output Equivalent Circuit Modeling for RF MOSFET IC Simulation
    Hong, Seoyoung ; Lee, Seonghearn
    In: JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, Jg. 15 (2015-10-31), Heft 5, S. 485-488
    Online academicJournal
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    Accurate Non-Quasi-Static Gate-Source Impedance Model of RF MOSFETs
    Lee, Hyun-Jun ; Lee, Seonghearn
    In: JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, Jg. 13 (2013-12-31), Heft 6, S. 569-574
    Online academicJournal
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    Accurate RF Extraction Method for Gate Voltage-Dependent Carrier Velocity of Sub-0.1㎛ MOSFETs in the Saturation Region
    Seonghearn Lee (이성현)
    In: 전자공학회논문지, Jg. 50 (2013-09-30), Heft 9, S. 55-58
    academicJournal
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    A 'Thru-Short-Open' De-embedding Method for Accurate On-Wafer RF Measurements of Nano-Scale MOSFETs
    Kim, Ju-Young ; Choi, Min-Kwon ; et al.
    In: JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, Jg. 12 (2012-03-31), Heft 1, S. 53-57
    Online academicJournal
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    새로운 파라미터 추출 방법을 사용한 Multi-Finger RF MOSFET의 기판 모델 정확도 비교
    최민권 (Min-Kwon Choi) ; 김주영 (Ju-Young Kim) ; et al.
    In: 전자공학회논문지-SD, Jg. 49 (2012-02-29), Heft 2, S. 9-13
    academicJournal
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    Computing-Inexpensive Matrix Model for Estimating the Threshold Voltage Variation by Workfunction Variation in High-κ/Metal-gate MOSFETs
    Gyo Sub Lee ; Shin, Changhwan
    In: JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, Jg. 14 (2014-02-28), Heft 1, S. 96-98
    Online academicJournal
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    Wide Width Effect를 고려하여 개선된 SPICE MOSFET RF Model 연구
    차지용 (Ji-Yong Cha) ; 차준영 (Jun-Young Cha) ; et al.
    In: 전자공학회논문지-SD, Jg. 45 (2008-02-29), Heft 2, S. 7-11
    academicJournal
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    RF 스위치용 HR PD-SOI MOSFET의 SPICE 모델링
    국진욱 (Jinwook Kuk) ; 이성현 (Seonghearn Lee)
    In: 전자공학회논문지, Jg. 59 (2022-02-28), Heft 2, S. 29-34
    academicJournal
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    Deep Submicron SOI n-채널 MOSFET에서 열전자 효과들의 온도 의존성
    박근형 (Keun-Hyung Park) ; 차호일 (Ho-Il Cha)
    In: 한국정보전자통신기술학회 논문지, Jg. 11 (2018-04-30), Heft 2, S. 189-193
    academicJournal
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    Suppression Techniques of Subthreshold Hump Effect for High-Voltage MOSFET
    Baek, Ki-Ju ; Na, Kee-Yeol ; et al.
    In: JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE, Jg. 13 (2013-10-31), Heft 5, S. 522-528
    Online academicJournal
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