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    Prolog to: Leakage current mechanisms and leakage reduction techniques in deep-submicrometer cmos circuits
    Falk, H.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 91 (2003-02-01), Heft 2, S. 303-304
    Online academicJournal
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    Volltext
    Wie komme ich dran?
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    Technology challenges for integration near and below 0.1 /spl mu/m
    Asai, S. ; Wada, Y.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 85 (1997-04-01), Heft 4, S. 505-520
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  3. Detailansicht für Treffer 3 öffnen
    Device scaling limits of Si MOSFETs and their application dependencies
    Frank, D.J. ; Dennard, R.H. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 89 (2001-03-01), Heft 3, S. 259-288
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  4. Detailansicht für Treffer 4 öffnen
    State of the Art in 60-GHz Integrated Circuits and Systems for Wireless Communications
    Rappaport, T. S. ; Murdock, J. N. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 99 (2011-08-01), Heft 8, S. 1390-1436
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  5. Detailansicht für Treffer 5 öffnen
    An Integrated CAD Methodology for Evaluating MOSFET and Parasitic Extraction Models and Variability
    Das, K. K. ; Walker, S. G. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 95 (2007-03-01), Heft 3, S. 670-687
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  6. Detailansicht für Treffer 6 öffnen
    III-V Nanowires—Extending a Narrowing Road
    Wernersson, L. E. ; Thelander, C. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 98 (2010-12-01), Heft 12, S. 2047-2060
    Online academicJournal
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    Wie komme ich dran?
  7. Detailansicht für Treffer 7 öffnen
    Introduction to flash memory
    Bez, R. ; Camerlenghi, E. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 91 (2003-04-01), Heft 4, S. 489-502
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Thin-film silicon: Preparation, properties, and device applications
    Allison, J.F. ; Dumin, D.J. ; et al.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 57 (1969-09-01), Heft 9, S. 1490-1498
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    Static RAM cell for ternary logic
    Nagaraj, K. ; Ramkumar, K.
    In: Proceedings of the IEEE, Proc. IEEE, Jg. 72 (1984-02-01), Heft 2, S. 227-228
    Online academicJournal
    Zugriff:
    Volltext
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
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md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -