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    An improved low power CMOS readout circuit for focal plane array
    Zhongjian, Chen ; Xiaoyong, Li ; et al.
    In: ASICON 2001. 2001 4th International Conference on ASIC Proceedings (Cat. No.01TH8549), 2001, S. 854-857
    Konferenz
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    An improved pass transistor synthesis method for low power, high speed CMOS circuits
    Vinereanu, T. ; Lidholm, S.
    In: ISLPED'00: Proceedings of the 2000 International Symposium on Low Power Electronics and Design (Cat. No.00TH8514), 2000, S. 120-124
    Online Konferenz
    Zugriff:
    Full Text Finder (Volltext)
    Wie komme ich dran?
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    Versatile CMOS and BiCMOS linear transconductor circuits
    Lopez-Mietin, A.J. ; Carlosena, A. ; et al.
    In: 42nd Midwest Symposium on Circuits and Systems (Cat. No.99CH36356), Jg. 2 (1999), S. 1024-1027
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Comparison of the total-dose and 60 MeV proton-irradiation response of CMOS transistors operated at 4.2 K
    Simoen, E. ; Claeys, C. ; et al.
    In: 1999 Fifth European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems. RADECS 99 (Cat. No.99TH8471), 1999, S. 535-541
    Konferenz
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    Integration of high-k gate stack systems into planar CMOS process flows
    Huff, H.R. ; Agarwal, A. ; et al.
    In: Extended Abstracts of International Workshop on Gate Insulator. IWGI 2001 (IEEE Cat. No.01EX537), 2001, S. 2-11
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A low-voltage CMOS multiplier and its application to a 900 MHz RF downconversion mixer
    Debono, C.J. ; Maloberti, F. ; et al.
    In: ICECS 2000. 7th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (Cat. No.00EX445), Jg. 1 (2000), S. 108-111
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Total-dose radiation tolerance of a commercial 0.35 /spl mu/m CMOS process
    Lacoe, R.C. ; Osborn, J.V. ; et al.
    In: 1998 IEEE Radiation Effects Data Workshop. NSREC 98. Workshop Record. Held in conjunction with IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (Cat. No.98TH8385), 1998, S. 104-110
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  8. Detailansicht für Treffer 8 öffnen
    Beyond CMOS: single-electron transistors
    Kanjanachuchai, S. ; Panyakeow, S.
    In: 2002 IEEE International Conference on Industrial Technology, 2002. IEEE ICIT, Jg. 2 (2002), S. 1219-1222
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  9. Detailansicht für Treffer 9 öffnen
    CMOS photosensor arrays with on-chip signal processing
    Schanz, M. ; Brockherde, W. ; et al.
    In: Proceedings of the 23rd European Solid-State Circuits Conference, 1997, S. 236-239
    Konferenz
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    A novel salicide process (SEDAM) for sub-quarter micron CMOS devices
    Mogami, T. ; Wakabayashi, H. ; et al.
    In: Proceedings of 1994 IEEE International Electron Devices Meeting, 1994, S. 687-690
    Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Systematic CMOS transistor mismatch characterization
    Serrano-Gotarredona, T. ; Linares-Barranco, B.
    In: 1996 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Jg. 4 (1996), S. 113-116
    Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Transport Properties of the SiO(2)/Ta(2)O(5) stack as Gate Dielectric in CMOS Processes
    Devoivre, T. ; Papadas, C. ; et al.
    In: 28th European Solid-State Device Research Conference, 1998, S. 152-155
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Cheap and easy systematic CMOS transistor mismatch characterization
    Serrano-Gotarredona, T. ; Linares-Barranco, B.
    In: 1998 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS), Jg. 2 (1998), S. 466-469
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Closed-Loop CMOS Gate Delay Time Optimization
    Stockinger, M. ; Selberherr, S.
    In: 29th European Solid-State Device Research Conference, Jg. 1 (1999), S. 504-507
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    A 'do-it-yourself' methodology for CMOS transistor mismatch characterization
    Serrano-Gotarredona, T. ; Linares-Barranco, B.
    In: Proceedings of 40th Midwest Symposium on Circuits and Systems. Dedicated to the Memory of Professor Mac Van Valkenburg, Jg. 2 (1997), S. 1120-1123
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    High Speed, Low Power Four-Quadrant CMOS Current-Mode Multiplier
    Naderi, A. ; Khoei, A. ; et al.
    In: 2007 14th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems, 2007-12-01, S. 1308
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A 1.2-V 0.8-mW SI ΔΣ A/D Converter in Standard Digital CMOS Process
    Tan, Nianxiong
    In: ESSCIRC '95: Twenty-first European Solid-State Circuits Conference, 1995-09-01, S. 150-153
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Status And Trends In SOI CMOS Technology
    Colinge, J. P.
    In: Proceedings of Technical Papers. International Symposium on VLSI Technology, Systems, and Applications, 1997, S. 118-122
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Challenges for sub-10 nm CMOS devices
    Mogami, Tohru ; Wakabayashi, Hitoshi
    In: 2006 International Workshop on Nano CMOS, 2006, S. 125
    Konferenz
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  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Noise spectral density measurements of a radiation hardened CMOS process in the weak and moderate inversion
    Tedja, S. ; Williams, H.H. ; et al.
    In: Conference Record of the 1991 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging, 1991, S. 1510-1514
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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