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    (Invited) Low Frequency Noise Performance of State-of-the-Art and Emerging CMOS Devices : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Claeys, C. ; Aoulaiche, M. ; et al.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 567-580
    Konferenz
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    A Compact CMOS 3-D Magnetic Field Sensor : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Wang, G. ; Misra, D.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 543-558
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    (Invited) Nano-Derived, Micro-Chemical Sensors for High-Temperature Applications : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Sabolsky, E.M. ; Wildfire, C. ; et al.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 495-506
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    (Invited) Heterogeneously Integrated III-V on Silicon for Future Nanoelectronics : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Hudait, M.K.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 581-594
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Electrical Properties of Silicon Nitride Using High Density and Low Plasma Damage PECVD Formed at 400^oC : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Nakao, Y. ; Teramoto, A. ; et al.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 421-428
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    (Invited) Heterogeneous Integration of Ultra-Thin Sheets of Alternative Materials onto Silicon Substrates : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Levin, S.M. ; Kuang, J. ; et al.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 559-566
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Polysilicon Nanowire Sensor Devices Based on High-k Dielectric Membrane for pH Sensing and DNA Detection : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Wu, C. ; Hsu, P. ; et al.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 537-542
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    New Metal Organic Gas Supply System by Using an Advanced Flow Control System : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Yamaji, M. ; Yamashita, S. ; et al.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 429-436
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Coaxial-Structured Solar Cells with Silicon Nanostructures : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Li, H. ; Chen, K. ; et al.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 529-536
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Formation of CoSi2/CoSixNy Nanocrystals for Nonvolatile Memory Application : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Huang, J. ; Chang, T. ; et al.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 361-370
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Forming-Free Resistive Switching Memory Characteristics Using IrO~x/GdO~x/W Cross-Bar Structure : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Jana, D. ; Prakash, A. ; et al.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 349-354
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    (Invited) Dry Adhesives for MEMS Assembly, Manipulation and Integration: Progress and Challenges : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Sameoto, D.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 515-528
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    (Invited) Engineering of Nanocomposite Materials for Sensing Applications : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Amini, A. ; Bahreyni, B.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 507-514
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Investigation of Antimony Oxide Films Deposited by Atomic Layer Deposition : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Kalkofen, B. ; Mothukuru, V. ; et al.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 461-476
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    Texturing and Tetragonal Phase Stabilization of ALD Hf~xZr~1~-~xO~2 Using a Cyclical Deposition and Annealing Scheme : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Tapily, K. ; Consiglio, S. ; et al.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 411-420
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    (Invited) Micropatternable Multifunctional Nanocomposite Polymers for Flexible Soft NEMS and MEMS Applications : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Khosla, A. ; Gray, B.L.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 477-494
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    Influence of Forming Gas Annealing on SiO~2/Si(100) Interface Structures Formed Utilizing Oxygen Molecules Different from that Utilizing Oxygen Radicals : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Suwa, T. ; Kumagai, Y. ; et al.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 453-460
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Impact of High- kappa TaO~x Thickness on the Switching Mechanism of Resistive Memory Device Using IrO~x/TaO~x/WO~x/W Structure : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Prakash, A. ; Maikap, S. ; et al.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 379-388
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Hybrid Orientation Substrate Fabrication Using Electron Beam Induced Orientation Selective Epitaxial Growth of CeO~2(100) and (110) Areas on Si(100) Substrates : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Inoue, T. ; Shida, S.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 443-452
    Konferenz
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    (Invited) Ozone Assisted ALD of Doped ZnO as a Transparent Metal : Dielectrics for nanosystems: materials science, processing, reliability and manufacturing; -and- Tutorials in nanotechnology : more than Moore - beyond CMOS emerging materials and devices
    Yuan, H. ; Luo, B. ; et al.
    In: ECS TRANSACTIONS, Jg. 45 (2012), Heft 3, S. 389-400
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
xs 0 - 576
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md 768 - 992
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xl 1200 - 1366
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