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    A neural network algorithm for testing stuck-open faults in CMOS combinational circuits
    Zhang, Zaifu ; Mcleod, Robert D. ; et al.
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 4 (1993-08-01), Heft 3, S. 225-235
    Online academicJournal
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    A Balanced Capacitive Threshold-Logic Gate
    López-García, Javier ; Fernández-Ramos, José ; et al.
    In: Analog Integrated Circuits and Signal Processing: An International Journal, Jg. 40 (2004-07-01), Heft 1, S. 61-69
    Online academicJournal
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    An Analog-Digital Merged Neural Circuit Using Pulse Width Modulation Technique
    Morie, Takashi ; Funakoshi, Jun ; et al.
    In: Analog Integrated Circuits and Signal Processing: An International Journal, Jg. 25 (2000-12-01), Heft 3, S. 319-328
    Online academicJournal
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    A Circuit Architecture for Analog On-Chip Back Propagation Learning with Local Learning Rate Adaptation
    Bo, G. M. ; Caviglia, D. D. ; et al.
    In: Analog Integrated Circuits and Signal Processing: An International Journal, Jg. 18 (1999-02-01), Heft 2-3, S. 163-173
    Online academicJournal
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    Parametric testing of mixed-signal circuits by ANN processing of transient responses
    Materka, Andrzej ; Strzelecki, Michal
    In: Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Jg. 9 (1996-08-01), Heft 1-2, S. 187-202
    Online academicJournal
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    Silicon neuron simulation with SPICE: tool for neurobiology and neural networks
    Grattarola, M. ; Bove, M. ; et al.
    In: Medical and Biological Engineering and Computing, Jg. 33 (1995-07-01), Heft 4, S. 533-536
    Online academicJournal
    Zugriff:
    View record at Springer (Volltext)
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xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -